電感類:內(nèi)部漏極間電感zD、內(nèi)部源極間電感Ls。
發(fā)布時(shí)間:2019/6/24 20:22:48 訪問次數(shù):1572
電感類
電感類:內(nèi)部漏極間電感zD、內(nèi)部源極間電感Ls。
該參數(shù)的測(cè)試需要在生產(chǎn)線上選取樹脂封裝、封蓋前樣品,使用LCR測(cè)試儀對(duì)芯片鍵合位置到引腳端進(jìn)行測(cè)試,該數(shù)值主要由鍵合絲材料、長(zhǎng)度、直徑,以及封裝方式、引線決定。
寄生二極管類 A1280A-1CQ172B
寄生二極管類參數(shù)有持續(xù)源極電流Js、峰值源極電流厶M、正向壓降/sD、反向恢復(fù)時(shí)間柄、反向恢復(fù)電荷grr。
持續(xù)源極電流rs、峰值源極電流rsM、正向壓降/sD三個(gè)參數(shù)測(cè)試方法可以參考《GB/T4023-199T半導(dǎo)體分立器件和集成電路第2部分:整流二極管》中第Ⅳ篇測(cè)試方法中的相關(guān)規(guī)定。
反向恢復(fù)時(shí)間rrr、反向恢復(fù)電荷gσ需要對(duì)輸入端進(jìn)行相應(yīng)控制,測(cè)試原理不同,其測(cè)試原理如圖5-61和圖5-⒍所示。
當(dāng)RG降低,d〃d莎和dWdr變大。
電感類
電感類:內(nèi)部漏極間電感zD、內(nèi)部源極間電感Ls。
該參數(shù)的測(cè)試需要在生產(chǎn)線上選取樹脂封裝、封蓋前樣品,使用LCR測(cè)試儀對(duì)芯片鍵合位置到引腳端進(jìn)行測(cè)試,該數(shù)值主要由鍵合絲材料、長(zhǎng)度、直徑,以及封裝方式、引線決定。
寄生二極管類 A1280A-1CQ172B
寄生二極管類參數(shù)有持續(xù)源極電流Js、峰值源極電流厶M、正向壓降/sD、反向恢復(fù)時(shí)間柄、反向恢復(fù)電荷grr。
持續(xù)源極電流rs、峰值源極電流rsM、正向壓降/sD三個(gè)參數(shù)測(cè)試方法可以參考《GB/T4023-199T半導(dǎo)體分立器件和集成電路第2部分:整流二極管》中第Ⅳ篇測(cè)試方法中的相關(guān)規(guī)定。
反向恢復(fù)時(shí)間rrr、反向恢復(fù)電荷gσ需要對(duì)輸入端進(jìn)行相應(yīng)控制,測(cè)試原理不同,其測(cè)試原理如圖5-61和圖5-⒍所示。
當(dāng)RG降低,d〃d莎和dWdr變大。
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