該系列標(biāo)準(zhǔn)給出了如下產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn):

   半導(dǎo)體發(fā)射器件:包括發(fā)光二極管、紅外發(fā)光二極管、激光二極管和激光二極管組件;半導(dǎo)體光電探測器:包括光電二極管和光電晶體管;半導(dǎo)體光敏元器件:包括光敏電阻和光導(dǎo)元件;GS8160Z18BGT-150

   內(nèi)部工作機(jī)理與光學(xué)輻射有關(guān)的半導(dǎo)體器件:包括光耦合器。

   GB/T15651―1995給出了半導(dǎo)體光電子器件的基本概念和一般術(shù)語,GB/T15651.2―⒛03給出了各類光電子器件的基本額定值和特性,GB/T15651,3-20O~s給出了半導(dǎo)體發(fā)射器件、光電探測器和光電耦合器這三類典型光電子器件特性或額定值的測試方法。在使用該標(biāo)

準(zhǔn)進(jìn)行測試時,應(yīng)注意以下事項:

   (1)測試條件和環(huán)境要求應(yīng)符合產(chǎn)品詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定;

   (2)測試用儀器的量程應(yīng)滿足測試要求,且具有規(guī)定的精度,并經(jīng)計量鑒定合格;

   (3)測試時按測試框圖連接測試儀器,并按操作要求進(jìn)行預(yù)熱;

   (4)測試時應(yīng)帶手套操作,保證光學(xué)元件表面清潔;

   (5)測試期間,要排除外界環(huán)境的機(jī)械振動及電磁干擾對測試結(jié)果的影響。綜上所述,該標(biāo)準(zhǔn)比較全面地介紹了光電子器件參數(shù)的測試方法。