對光電器件標(biāo)硅的理解

   GB/T15651《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》系列標(biāo)準(zhǔn)含3部分:《總則》、《基本額定值和特性》以及《測試方法》。標(biāo)準(zhǔn)文本由3份標(biāo)準(zhǔn)組成:GB/T15651―1995《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》; GS8160E36BGT-200

    GB″15651.2―⒛O3《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第52部分:光電子器件基本額定值和特性》;

   GB/T15651.3―⒛O3《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件壩刂試方法》。

   GB/T15651―1995 《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》于1995年頒布。GB/T15651―1995等同采用IEC TZI7-5-19” 《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》,替代sJ/Z9014.2《半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分:光電子器件》。GB/T15651―1995共分為4章,其中第ⅡI章被GB/T15651.2―⒛03《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-2部分:光電子器件基本額定值和特性》替代,第Ⅳ章被GB/T15651.3―⒛03《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件測試方法》替代。兩份標(biāo)準(zhǔn)分別等同采用ⅡC60僻⒎5-2:1997《半導(dǎo)體分立器件和集成電路第52部分:光電子器件基本額定值和特性》(英文版)和IEC60砰⒎5-3:1997《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件測試方法》(英文版)。