兩線電阻測量
發(fā)布時間:2019/7/6 20:23:05 訪問次數(shù):1055
兩線電阻測量
兩線電阻測量用于低阻測試的主要問題是測量結(jié)果中增加了引線的總電阻,如11-25所示。 FAN1585AD由于測試電流在引線電阻上產(chǎn)生了一個很小的電壓降,因此,電壓表測量的電壓就不會和被測閉合觸點上的電壓完全相同,于是產(chǎn)生了一定的誤差,測量得到的電阻值由引線電阻和閉合觸點接觸電阻組成。典型的引線電阻在5~1011n,與閉合觸點的接觸電阻數(shù)量級相當(dāng),引線電阻引起的誤差相當(dāng)大,近100%。
四線電阻測量
由于兩線電阻測量的局限性,所以對于低阻測量,四線電阻法(開爾文法)更適用,如圖11-26所示。四線電阻法可以使用數(shù)字多用表、毫歐表或者分離的電流源和電壓表來實現(xiàn)。在四線配置下,雖然恒定電流流經(jīng)測試引線,但是閉合觸點的壓降是通過取樣引線來測量,儀表測量出的電壓是與觸點壓降一致,計算出來的電阻值理論上接近閉合觸點的接觸電阻。在實際測試過程,應(yīng)當(dāng)把電壓取樣引線連接到盡可能接近被測閉合觸點的引出端,以避免在測量中計入引線電阻。
兩線電阻測量
兩線電阻測量用于低阻測試的主要問題是測量結(jié)果中增加了引線的總電阻,如11-25所示。 FAN1585AD由于測試電流在引線電阻上產(chǎn)生了一個很小的電壓降,因此,電壓表測量的電壓就不會和被測閉合觸點上的電壓完全相同,于是產(chǎn)生了一定的誤差,測量得到的電阻值由引線電阻和閉合觸點接觸電阻組成。典型的引線電阻在5~1011n,與閉合觸點的接觸電阻數(shù)量級相當(dāng),引線電阻引起的誤差相當(dāng)大,近100%。
四線電阻測量
由于兩線電阻測量的局限性,所以對于低阻測量,四線電阻法(開爾文法)更適用,如圖11-26所示。四線電阻法可以使用數(shù)字多用表、毫歐表或者分離的電流源和電壓表來實現(xiàn)。在四線配置下,雖然恒定電流流經(jīng)測試引線,但是閉合觸點的壓降是通過取樣引線來測量,儀表測量出的電壓是與觸點壓降一致,計算出來的電阻值理論上接近閉合觸點的接觸電阻。在實際測試過程,應(yīng)當(dāng)把電壓取樣引線連接到盡可能接近被測閉合觸點的引出端,以避免在測量中計入引線電阻。
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