緩沖區(qū)中有所需數(shù)量的樣本（此例中M = 8），隨后的轉換周期就會提供過采樣結果。輸出數(shù)據(jù)速率(ODR)會更快，哪怕M（樣本數(shù)）增加。滾動平均過采樣技術在需要高ODR和高性能的應用中很有用。

利用過采樣，ADC可以實現(xiàn)更高的動態(tài)范圍。過采樣的工作原理是假設噪聲源不相關且均值為零，這是因為樣本將白噪聲視為頻譜中均勻分布的噪聲，或者將以相鄰代碼為中心的高斯噪聲分布視為可通過平均來降低的信號。

使用AD7380所生成的快速傅立葉變換(FFT)曲線示例，分兩種情況：無過采樣和應用滾動平均過采樣，OSR = 8。

本底噪聲有顯著改善，這與SNR的增加是一致的。在使能正常平均過采樣和滾動平均過采樣的情況下，SNR分別提高到96 dB和95 dB。

高編碼器精度的電機以較低速度運行時，即電機開始減速，然后到達目標位置的情況。使用AD7380的片內過采樣技術可對正弦和余弦信號進行數(shù)字濾波，從而實現(xiàn)高動態(tài)范圍。增強的正弦和余弦轉換導致角位置精度更高，這在很多應用中是必需的，例如將微型元器件安裝到印刷電路板(PCB)的取放機器，或工業(yè)機械中用于運輸和移動載荷到特定位置的機械臂。

AD7380系列也可以通過過采樣有效提高分辨率，從而擴展可實現(xiàn)的SNR。要使能片內提升分辨率特性，須寫入CONFIGRATION1寄存器的RES位（位2）。

要了解過采樣如何提高SNR，請使用前面的公式計算17位ADC的SNR。結果是SNR為104.1 dB。

將此值代入SNR公式可得出將分辨率提高1位所需的過采樣系數(shù)k。

SAR ADC通常轉換單個時刻，以提供與特定時刻有關的數(shù)字答案。過采樣的使用隨著更快速SAR轉換器的出現(xiàn)而增加，目的是提高關鍵目標帶寬的分辨率。使用過采樣技術的SAR ADC中，該技術常常是通過微控制器或現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)上的后處理執(zhí)行的。在其SAR ADC系列中內置了過采樣特性。這種過采樣特性能夠提高噪聲性能，簡化接口要求，并允許用戶直接使用，而無需對FPGA或微控制器進行設計并執(zhí)行需要消耗大量資源的均值計算。過采樣特性還能在可管理的數(shù)據(jù)速率下盡可能提高數(shù)據(jù)處理性能。

考慮在2 × BW之外采樣的額外過采樣過程。在下式中，將采樣頻率提高k倍（其中k是參與平均的樣本數(shù)或過采樣率），會導致SNR提高。