彈性壓縮：在自動測試模式生成(ATPG)期間，通過嵌入在解壓邏輯中的寄存器，按序控制多個掃描周期的關(guān)注數(shù)據(jù)位，確保壓縮比提高至400倍以上時，仍可保持滿意的故障覆蓋率。

嵌入式存儲器總線支撐：插入共享測試訪問總線，同一IP核中的多個嵌入式存儲器可全速執(zhí)行可編程存儲器內(nèi)建自測試(PMBIST)。該功能還包括針對鰭式場效應(yīng)晶體靜態(tài)隨機(jī)存儲器(FinFET SRAM)和汽車安全應(yīng)用的全新可編程軟件測試算法。

強(qiáng)大的通用腳本和集成調(diào)試環(huán)境：可測性設(shè)計(DFT)邏輯插入及ATPG功能采用全新、且標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一的TCL腳本語言和調(diào)試環(huán)境，兼容Cadence Genus™ 綜合解決方案、Innovus™ 設(shè)計實現(xiàn)系統(tǒng)及Tempus™ 時序簽核解決方案。

標(biāo)準(zhǔn)包裝：20類別：繼電器家庭：功率繼電器，高于 2 A系列：HJ包裝：散裝繼電器類型：通用線圈類型：無鎖存線圈電流：75mA線圈電壓：12VDC觸頭外形：4PDT（4 C 型）額定接觸（電流）：5A開關(guān)電壓：250VAC，125VDC - 最小值導(dǎo)通電壓（最大值）：9.6 VDC關(guān)閉電壓（最小值）：1.2 VDC工作時間：20ms釋放時間：20ms特性：-安裝類型：可插端子類型：插入式觸頭材料：銀（Ag）線圈功率：900 mW線圈電阻：160 歐姆工作溫度：-40°C ~ 70°C其它名稱：255-1687HJ4DC12V

全新Modus™測試解決方案。該方案助設(shè)計工程師將產(chǎn)品測試時間縮短最高三倍，從而降低生產(chǎn)測試成本，進(jìn)一步提高硅產(chǎn)品利潤率。新一代測試解決方案采用物理感知2D彈性壓縮架構(gòu)，在不影響設(shè)計尺寸及布線的前提下使壓縮比高達(dá)400余倍。

針對測試設(shè)計過程中的挑戰(zhàn)，Cadence® Modus測試解決方案采用以下創(chuàng)新功能：

2D壓縮：掃描壓縮邏輯可在晶片平面布局上構(gòu)成二維物理感知網(wǎng)格，從而提高壓縮比并縮短線長。在壓縮比為100倍的情況下，2D壓縮線長最高可比業(yè)內(nèi)現(xiàn)行掃描壓縮架構(gòu)縮短2.6倍。

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