輸入ESD器件受損驅(qū)動(dòng)器的GND和控制芯片GND偏置電壓
發(fā)布時(shí)間:2021/5/18 13:14:55 訪問次數(shù):569
輸入負(fù)壓的場景與對MOSFET進(jìn)行電流采樣相關(guān)。為了實(shí)現(xiàn)更精確的控制,有時(shí)在功率MOSFET和大地之間會(huì)接一個(gè)采樣電阻.
這樣驅(qū)動(dòng)器的GND和控制芯片GND之間就會(huì)存在一個(gè)偏置電壓,因此控制芯片輸出低電平時(shí),相對于驅(qū)動(dòng)器的輸入端,則有一個(gè)負(fù)向的偏置電壓。
對于寄生電感引起的輸入瞬間負(fù)壓,一般有三種應(yīng)對方案?梢酝ㄟ^減小開關(guān)速度來降低影響,減小開關(guān)速度能降低電流變化速率di/dt,瞬間負(fù)壓幅度也就會(huì)下降。
負(fù)向電壓與寄生電感和電流變化率均成正比。
在典型的低邊柵極驅(qū)動(dòng)電路中,雖然控制器和功率MOSFET使用同一個(gè)直流地平面作為參考,但一些情況下,由于驅(qū)動(dòng)器和控制器有一定距離,所以總會(huì)存在寄生電感。
高di/dt的電流在流經(jīng)MOSFET及其板級回路時(shí),寄生電感存在會(huì)導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器的地電位相對于控制器地電位瞬間抬升,驅(qū)動(dòng)器的輸入和地之間就相當(dāng)于出現(xiàn)一個(gè)瞬間負(fù)壓。
在極端情況下,可能造成驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部 ,驅(qū)動(dòng)器出現(xiàn)失效。
(素材來源:ttic和eccn.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。特別感謝)
輸入負(fù)壓的場景與對MOSFET進(jìn)行電流采樣相關(guān)。為了實(shí)現(xiàn)更精確的控制,有時(shí)在功率MOSFET和大地之間會(huì)接一個(gè)采樣電阻.
這樣驅(qū)動(dòng)器的GND和控制芯片GND之間就會(huì)存在一個(gè)偏置電壓,因此控制芯片輸出低電平時(shí),相對于驅(qū)動(dòng)器的輸入端,則有一個(gè)負(fù)向的偏置電壓。
對于寄生電感引起的輸入瞬間負(fù)壓,一般有三種應(yīng)對方案?梢酝ㄟ^減小開關(guān)速度來降低影響,減小開關(guān)速度能降低電流變化速率di/dt,瞬間負(fù)壓幅度也就會(huì)下降。
負(fù)向電壓與寄生電感和電流變化率均成正比。
在典型的低邊柵極驅(qū)動(dòng)電路中,雖然控制器和功率MOSFET使用同一個(gè)直流地平面作為參考,但一些情況下,由于驅(qū)動(dòng)器和控制器有一定距離,所以總會(huì)存在寄生電感。
高di/dt的電流在流經(jīng)MOSFET及其板級回路時(shí),寄生電感存在會(huì)導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器的地電位相對于控制器地電位瞬間抬升,驅(qū)動(dòng)器的輸入和地之間就相當(dāng)于出現(xiàn)一個(gè)瞬間負(fù)壓。
在極端情況下,可能造成驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部 ,驅(qū)動(dòng)器出現(xiàn)失效。
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