結(jié)溫變化、開(kāi)通時(shí)間等因素對(duì)于IGBT壽命影響的數(shù)學(xué)模型,開(kāi)通時(shí)間影響的參考曲線,開(kāi)通時(shí)間短，器件的功率循環(huán)次數(shù)變長(zhǎng)。

究其原因主要是由于在秒級(jí)循環(huán)測(cè)試中綁定線的失效主要以材料的塑性變形為主，而在幾十毫秒的循環(huán)測(cè)試中綁定線的失效模式由塑性變形向彈性變形過(guò)度，因而壽命變長(zhǎng)。

IGBT芯片存在由于溫度波動(dòng)引起的可靠性問(wèn)題,功率循環(huán)測(cè)試有四種不同的測(cè)試方法，對(duì)于同一個(gè)被測(cè)對(duì)象，測(cè)試結(jié)果有很大差異。其中恒定導(dǎo)通和關(guān)斷時(shí)間的測(cè)試方法，其測(cè)試條件最為苛刻，因而測(cè)試的循環(huán)次數(shù)也最短，帶有補(bǔ)償?shù)钠溆嗳N測(cè)試方法，其測(cè)試循環(huán)次數(shù)會(huì)變長(zhǎng)。

轉(zhuǎn)速負(fù)反饋有靜差調(diào)速系統(tǒng)放大器的放大倍數(shù)為Kp則:σc-h=m

觸發(fā)器和晶間管整流裝置放大倍數(shù)為氏r-σd=mj

電樞回路電壓方程式為:

E=σd-rdRΣ

式中,RΣ為電動(dòng)機(jī)電樞電阻、電刷電阻等電阻之和。

電動(dòng)機(jī)的轉(zhuǎn)速為:

j=~1~E=KmE-Cc9

在反饋環(huán)節(jié)中:

yi=αnn

EA-PSI電源、EA-PSB電源和EA-ELR負(fù)載都有一個(gè)內(nèi)置函數(shù)發(fā)生器，可以產(chǎn)生加載在直流偏置上的復(fù)雜信號(hào)，并模擬各種設(shè)備的特性，如太陽(yáng)能電池、普通電池和燃料電池。

特殊功能可用于太陽(yáng)能電池板逆變器測(cè)試的最大功率點(diǎn)跟蹤(MPPT)和EN50530，以及基于LV123、LV124和LV148標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試序列，用于測(cè)試汽車(chē)組件和系統(tǒng)。內(nèi)置功能簡(jiǎn)化了儀器編程的任務(wù)，模擬各種設(shè)備并創(chuàng)建輸出（或輸入）序列，以符合關(guān)鍵測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

有源功率因數(shù)校正，通常為0.99，以將從電網(wǎng)中獲取的功率最小化。此外，EA-PSB雙向電源和EA-ELR 電子負(fù)載采用再生電路將能量回饋至電網(wǎng)，效率高達(dá)96%以上。再生電路節(jié)省了運(yùn)行成本和冷卻需要的費(fèi)用。傳統(tǒng)電子負(fù)載產(chǎn)生熱量，冷卻系統(tǒng)必不可少。