應(yīng)力強(qiáng)度模型主要用來模擬機(jī)械設(shè)備的損壞，而反應(yīng)論模型則用來模擬化學(xué)反應(yīng)等導(dǎo)致的失效。 它是指電子元器件的劣化和損壞等失效，是在原子、分子這樣的級(jí)別上隨時(shí)間發(fā)生的變化引起的。

例如，由于電氣、機(jī)械、熱和化學(xué)等多方面的應(yīng)力所引起物質(zhì)內(nèi)部各種變化，如平衡狀態(tài)的變化、材料組分的變化、晶體結(jié)構(gòu)的變化、結(jié)合力的變化、裂紋的發(fā)展等，都是造成元器件失效的原因。

而支配這些失效進(jìn)程的，是氧化、析出、電解、擴(kuò)散、蒸發(fā)、磨損和疲勞等失效機(jī)理。這些變化或反應(yīng)的速度決定于應(yīng)力的種類和大小。

任意要素失效都會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品發(fā)生故障,從功能上均可以認(rèn)為這屬于咒個(gè)要素的串聯(lián)系統(tǒng)。

因此，可以利用其功能上等價(jià)的模型——串聯(lián)模型來計(jì)算產(chǎn)品的可靠度或失效率。若從產(chǎn)品怎樣損壞的觀點(diǎn)來看，串聯(lián)模型恰是鏈條的可靠度模型。構(gòu)成鏈條的各個(gè)環(huán)只要有一個(gè)斷了，鏈條就斷了，而這些環(huán)中的最弱者（即壽命最短者）決定了鏈酌壽命。

退化反應(yīng)到達(dá)最終退化狀態(tài)前要跨越幾個(gè)能量勢(shì)壘。也就是說，整個(gè)退化反應(yīng)往往由幾個(gè)連續(xù)過程組成，產(chǎn)品壽命分布（如早期失效期、偶然失效期、耗損失效期）有關(guān)，可以從本質(zhì)上來加以理解。

失效機(jī)理的基礎(chǔ)上，為制定產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)和篩選試驗(yàn)方案提供依據(jù)，并對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量做出非破壞性預(yù)測(cè)和可靠性的短期保證；

根據(jù)失效物理所涉及的內(nèi)容，只有從物理、化學(xué)的微觀分子結(jié)構(gòu)上來進(jìn)行觀察，才能從根本上掌握工作條件、環(huán)境應(yīng)力及時(shí)間對(duì)產(chǎn)品性能的劣化或失效所產(chǎn)生的影響，以便為元器件本身的改良、研制提供可靠的依據(jù)。

電樞線圈在轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),切割磁力線,產(chǎn)生交流電動(dòng)勢(shì),每個(gè)電樞線圈的兩端按規(guī)定順序連接在換向器上。

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