Multitest標準測試分選機MT9928已被運用在不同的客戶用于校正和調(diào)整MEMS振蕩器。所有系統(tǒng)以完整Plug&Yield解決方案的形式交付，包括Multitest轉(zhuǎn)換套件、Multitest測試座和Multitest負載板。

MEMS振蕩器的所有典型封裝規(guī)格均在支持范圍之內(nèi)（2.0x2.5、2.5x3.2、3.2x5.0、5.0x7.0以及基于要求的規(guī)格）。

MT9928重力型分選機不僅確保規(guī)定溫度精度（最高為+/-0.2°K），亦保證高產(chǎn)能和低測試成本。測試分選機以該方式全面支持良好的成本結(jié)構(gòu)。

氮化鎵功率晶體管包括28V的T1G6003028-FS，其工作頻率為直流至6 GHz，提供30W的輸出功率，在3.5GHz和6GHz頻率時的效率分別為55%和44%。

32V的T1G4003532-FS和法蘭封裝的T1G4003532-FL是用于S波段及類似應用的理想選擇。它們在直流至3.5GHz工作頻率下提供37W(CW)輸出功率。

上述兩種32V器件均在3.5GHz和6GHz分別提供大于16dB和10dB的增益；其附加功率效率(PAE)在5GHz和6GHz分別為60%和49.6%。

MOSFET的結(jié)構(gòu)中，寄生于內(nèi)部而形成的二極管。逆變器工作時，電流經(jīng)過此二極管，因此要求具備低VF值和高速恢復特性。

T1G6003028-FL提供相同的性能，并且采用法蘭封裝來滿足不同封裝的要求。

IGBT中的關(guān)斷時流過的瞬態(tài)電流。因空穴注入的積累時間而產(chǎn)生。此期間內(nèi)需要較高的漏極電壓，因此產(chǎn)生較大的開關(guān)損耗。

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