在PRB0400芯片中，PCIe接口負責(zé)與PCIe相關(guān)的所有物理層、數(shù)據(jù)鏈路層和傳輸層協(xié)議，S-RIO接口則實現(xiàn)與S-RIO相關(guān)的所有物理層和傳輸層協(xié)議。消息引擎用作RapidIO邏輯層消息傳遞，接收和發(fā)送通道均支持8個獨立的處理引擎。

在兼容對標(biāo)器件全部功能和不影響官方驅(qū)動前提下，相比于國際廠商的相關(guān)產(chǎn)品，PRB0400增加了業(yè)務(wù)相關(guān)7項、適配相關(guān)6項、可維可測相關(guān)5項、魯棒性相關(guān)7項，共計25項功能增強，能夠更好地滿足本土客戶的應(yīng)用需求。

一款用于開關(guān)電源的內(nèi)置150V高壓MOSFET的DC-DC控制器。 

SL3170內(nèi)置高壓啟動和自供電功能，可滿足快速啟動和低待機功耗要求。具有自適應(yīng)降頻功能，可進一步優(yōu)化輕載條件下的轉(zhuǎn)換效率。

芯片內(nèi)置軟啟動功能，能減小器件應(yīng)力，有效防止電感電流過沖。

結(jié)果表還提供了回到波形顯示的鏈接。您可以在表格顯示中點擊一行，示波器會自動放大對應(yīng)的總線信號，并在屏幕的下半部分顯示結(jié)果解碼的總線波形。

對于固件工程師來說，結(jié)果表格格式可能更有用。這種帶時間戳的總線活動顯示可以輕松地與軟件列表進行比較，并且允許輕松計算執(zhí)行速度。

開短路測試用于驗證測試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性，測試的過程是借用對地保護二極管進行的.

漏電流測試，又稱為Leakage Test，漏電流測試的目的主要是檢驗輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高，DC參數(shù)的測試，一般都是Force電流測試電壓或者Force電壓測試電流，主要是測試阻抗性。

一般各種DC參數(shù)都會在Datasheet里面標(biāo)明，測試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范.

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