單片機(jī)：atmega8l-8pi，共15個(gè)樣品（分屬兩個(gè)批號(hào)）。
上位機(jī)：pc機(jī)，主頻667mhz。
測(cè)試條件：上位機(jī)連續(xù)發(fā)送40個(gè)不同字符（子母a-z，10個(gè)數(shù)字，@#$%）。單片機(jī)接收到一個(gè)字符后，在接收中斷里立即將該字符發(fā)送回上位機(jī)。上位機(jī)接收到40個(gè)字符后與剛才發(fā)送的一組40個(gè)字符比較無(wú)誤則認(rèn)為該組通過(guò)測(cè)試。每次共測(cè)試100組字符（共4000字符），每組發(fā)送間隔1秒。
上位機(jī)和單片機(jī)均設(shè)置成8數(shù)據(jù)位，無(wú)校驗(yàn)，2停止位。

測(cè)試1：時(shí)鐘1mhz，波特率2400和4800。室溫22攝氏度。
15片均通過(guò)測(cè)試，無(wú)誤碼。

測(cè)試2：時(shí)鐘2mhz，波特率4800和9600。室溫22攝氏度。
15片均通過(guò)測(cè)試，無(wú)誤碼。

測(cè)試3：時(shí)鐘4mhz，波特率9600和19200。室溫22攝氏度。
15片均通過(guò)測(cè)試，無(wú)誤碼。

測(cè)試4：時(shí)鐘8mhz，波特率19200和38400。室溫22攝氏度。
15片均通過(guò)測(cè)試，無(wú)誤碼。

測(cè)試5：時(shí)鐘8mhz，波特率38400。溫度計(jì)置于芯片側(cè)面，芯片和溫度計(jì)上面蓋一金屬片以使溫場(chǎng)均勻。用電吹風(fēng)加熱到溫度計(jì)指示65攝氏度。
僅測(cè)試1片。通過(guò)測(cè)試，無(wú)誤碼。

測(cè)試中發(fā)現(xiàn)如果上位機(jī)設(shè)置成1停止位，則連續(xù)發(fā)送30個(gè)左右字符后會(huì)丟失一個(gè)字符。