1----測試簡介
2----測試硬件簡介－－－測試機(jī)(tester)
3----測試硬件簡介－－－測試手臂(handler and prober)
4----測試硬件簡介－－－探針卡(prober card)
5----測試硬件簡介－－－測試座(socket)
6----測試硬件簡介－－－測試板(loadboard and wpi)
7----測試方法簡介－－－開短路測試(openshort)
8----測試方法簡介－－－漏電路測試(pin leakage)
9----測試方法簡介－－－level測試(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----測試方法簡介－－－電源電流測試(idd)
11----測試方法簡介－－－ac測試
12----測試方法簡介－－－功能測試(fouctional test)
13----測試方法簡介－－－掃描測試(scan test)
14----測試方法簡介－－－自建測試(bist test)
15----測試方法簡介－－－混頻測試(adc)
16----測試方法簡介－－－混頻測試(dac)
17----測試程序開發(fā)(test program create)
18----測試開發(fā)－－－基于缺陷開發(fā)final test 程序技術(shù)(dot-ft)
19----測試開發(fā)－－－多頭測試技術(shù)(multi-sites test)
20----測試開發(fā)－－－多核測試技術(shù)(multi-ports test)
21----如何debug