測試硬件簡介－－－探針卡(prober card)
發(fā)布時間:2008/6/5 0:00:00 訪問次數(shù):3838
探針卡(prober card) 是晶圓測試(wafer test)中被測芯片和測試機之間的接口.
探針卡對前期測試的開發(fā)及后期量產(chǎn)測試的良率的保證都非常重要.
一.下面介紹一常見的幾類探針卡。
1.blade type : under 70 pins,low speed
low current probing
probing at extreme temperatures: > 200ºc
rf probing: > 3 ghz
low cost
lead time 1 day
刀片式:結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,抗干擾性好,可用于rf測試。
2.epoxy type ; <1000pins
large array /multi-dut probing
tight pitch applications
high temperature applications
lead time 4 weeks for new design
repeat order 2 weeks
環(huán)氧樹脂(懸臂式):比較流行的一種卡,針間的pitch可以做的很小,
同一張卡里針的數(shù)量也做的比較多.
3.vertical type: >1000 pins or high speed
multi-dut probing
parallel and grid array probing capacities
high accuracy
high contact quality
by 32 parallel or above
lead time 10-12 weeks for new design
垂直式:一張卡了可以做的針的數(shù)量非常多，可以做幾千個針。針定位精確，
和芯片上pad的接觸效果好.
二.探針卡主要的供應(yīng)商.
company location
k&s us/tw/china
cascade us
wwl us
formfactor us
probe2000 us
jem japan
mjc japan
tcl japan/china
thicom korea
siprox tw
probe technology tw
ktti tw
愛普升 tw
microprobe tw
mpi tw
metek tw
mms (mjc and mpi ) shanghai
kimpsion corp. tw
shanghai yiyuan shanghai
npcl cmai tw
探針卡對前期測試的開發(fā)及后期量產(chǎn)測試的良率的保證都非常重要.
一.下面介紹一常見的幾類探針卡。
1.blade type : under 70 pins,low speed
low current probing
probing at extreme temperatures: > 200ºc
rf probing: > 3 ghz
low cost
lead time 1 day
刀片式:結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,抗干擾性好,可用于rf測試。
2.epoxy type ; <1000pins
large array /multi-dut probing
tight pitch applications
high temperature applications
lead time 4 weeks for new design
repeat order 2 weeks
環(huán)氧樹脂(懸臂式):比較流行的一種卡,針間的pitch可以做的很小,
同一張卡里針的數(shù)量也做的比較多.
3.vertical type: >1000 pins or high speed
multi-dut probing
parallel and grid array probing capacities
high accuracy
high contact quality
by 32 parallel or above
lead time 10-12 weeks for new design
垂直式:一張卡了可以做的針的數(shù)量非常多，可以做幾千個針。針定位精確，
和芯片上pad的接觸效果好.
二.探針卡主要的供應(yīng)商.
company location
k&s us/tw/china
cascade us
wwl us
formfactor us
probe2000 us
jem japan
mjc japan
tcl japan/china
thicom korea
siprox tw
probe technology tw
ktti tw
愛普升 tw
microprobe tw
mpi tw
metek tw
mms (mjc and mpi ) shanghai
kimpsion corp. tw
shanghai yiyuan shanghai
npcl cmai tw
探針卡(prober card) 是晶圓測試(wafer test)中被測芯片和測試機之間的接口.
探針卡對前期測試的開發(fā)及后期量產(chǎn)測試的良率的保證都非常重要.
一.下面介紹一常見的幾類探針卡。
1.blade type : under 70 pins,low speed
low current probing
probing at extreme temperatures: > 200ºc
rf probing: > 3 ghz
low cost
lead time 1 day
刀片式:結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,抗干擾性好,可用于rf測試。
2.epoxy type ; <1000pins
large array /multi-dut probing
tight pitch applications
high temperature applications
lead time 4 weeks for new design
repeat order 2 weeks
環(huán)氧樹脂(懸臂式):比較流行的一種卡,針間的pitch可以做的很小,
同一張卡里針的數(shù)量也做的比較多.
3.vertical type: >1000 pins or high speed
multi-dut probing
parallel and grid array probing capacities
high accuracy
high contact quality
by 32 parallel or above
lead time 10-12 weeks for new design
垂直式:一張卡了可以做的針的數(shù)量非常多，可以做幾千個針。針定位精確，
和芯片上pad的接觸效果好.
二.探針卡主要的供應(yīng)商.
company location
k&s us/tw/china
cascade us
wwl us
formfactor us
probe2000 us
jem japan
mjc japan
tcl japan/china
thicom korea
siprox tw
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ktti tw
愛普升 tw
microprobe tw
mpi tw
metek tw
mms (mjc and mpi ) shanghai
kimpsion corp. tw
shanghai yiyuan shanghai
npcl cmai tw
探針卡對前期測試的開發(fā)及后期量產(chǎn)測試的良率的保證都非常重要.
一.下面介紹一常見的幾類探針卡。
1.blade type : under 70 pins,low speed
low current probing
probing at extreme temperatures: > 200ºc
rf probing: > 3 ghz
low cost
lead time 1 day
刀片式:結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,抗干擾性好,可用于rf測試。
2.epoxy type ; <1000pins
large array /multi-dut probing
tight pitch applications
high temperature applications
lead time 4 weeks for new design
repeat order 2 weeks
環(huán)氧樹脂(懸臂式):比較流行的一種卡,針間的pitch可以做的很小,
同一張卡里針的數(shù)量也做的比較多.
3.vertical type: >1000 pins or high speed
multi-dut probing
parallel and grid array probing capacities
high accuracy
high contact quality
by 32 parallel or above
lead time 10-12 weeks for new design
垂直式:一張卡了可以做的針的數(shù)量非常多，可以做幾千個針。針定位精確，
和芯片上pad的接觸效果好.
二.探針卡主要的供應(yīng)商.
company location
k&s us/tw/china
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mjc japan
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mms (mjc and mpi ) shanghai
kimpsion corp. tw
shanghai yiyuan shanghai
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