實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
發(fā)布時(shí)間:2012/2/6 19:49:35 訪問次數(shù):1119
(1)測試74LSOO集成塊中與非門的邏輯功能。AD544JH
(2)利用74LSOO集成塊的與非門設(shè)計(jì)、搭試與門、或門、非門、或非門四種邏輯電路，并測試其邏輯功能。
(3)半加器實(shí)驗(yàn)：
在學(xué)習(xí)機(jī)上搭接半加器實(shí)驗(yàn)電路。測試其邏輯狀態(tài)，測試數(shù)據(jù)填入表2.5.3，并與理論值比較。（此時(shí)的輸入、輸出邏輯狀態(tài)可由邏輯電平指示燈來測試。半加器的邏輯圖如圖2.5.4所示。）
(1)測試74LSOO集成塊中與非門的邏輯功能。AD544JH
(2)利用74LSOO集成塊的與非門設(shè)計(jì)、搭試與門、或門、非門、或非門四種邏輯電路，并測試其邏輯功能。
(3)半加器實(shí)驗(yàn)：
在學(xué)習(xí)機(jī)上搭接半加器實(shí)驗(yàn)電路。測試其邏輯狀態(tài)，測試數(shù)據(jù)填入表2.5.3，并與理論值比較。（此時(shí)的輸入、輸出邏輯狀態(tài)可由邏輯電平指示燈來測試。半加器的邏輯圖如圖2.5.4所示。）
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