引起電子元器件失效的主要原因

發(fā)布時(shí)間:2012/3/7 19:33:36 訪問次數(shù):2345

    電子元器件的主要失效原因可以分為兩類，即元器件固有缺陷引起的失效和使用不當(dāng)引起的失效。據(jù)統(tǒng)計(jì)，這兩類失效的比率大約各占50%。元器件固有的缺陷大多是由于設(shè)計(jì)材料、生產(chǎn)工藝中存在問題，使元器件留下潛在隱患，當(dāng)這些元器件裝入整機(jī)使用一段時(shí)間后，在外界各種應(yīng)力的作用下，最終發(fā)生失效。而元器件應(yīng)用不當(dāng)形成的失效原因主要有以下幾個(gè)方面。
    設(shè)計(jì)不當(dāng)AAD706JR

    設(shè)訃不當(dāng)可分為電路設(shè)計(jì)不當(dāng)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)及工藝設(shè)計(jì)不當(dāng)?shù)取２徽撃姆N設(shè)計(jì)不當(dāng)，都會(huì)使元器件在應(yīng)用時(shí)受損而失效。設(shè)計(jì)不當(dāng)造成元器件的失效率較高，且會(huì)反復(fù)出現(xiàn)。
    例如，某整機(jī)上的CMOS集成電路，在低溫條件下工作失常，而在常溫下又恢復(fù)正常工作。造成這種失效的原因是CMOS電路在低溫下工作時(shí)，其延遲時(shí)間縮短了將近40%，使電路的邏輯關(guān)系發(fā)生錯(cuò)誤。這說明在電路設(shè)計(jì)時(shí)沒有考慮CMOS電路的這一特點(diǎn)。

    電子元器件的主要失效原因可以分為兩類，即元器件固有缺陷引起的失效和使用不當(dāng)引起的失效。據(jù)統(tǒng)計(jì)，這兩類失效的比率大約各占50%。元器件固有的缺陷大多是由于設(shè)計(jì)材料、生產(chǎn)工藝中存在問題，使元器件留下潛在隱患，當(dāng)這些元器件裝入整機(jī)使用一段時(shí)間后，在外界各種應(yīng)力的作用下，最終發(fā)生失效。而元器件應(yīng)用不當(dāng)形成的失效原因主要有以下幾個(gè)方面。
    設(shè)計(jì)不當(dāng)AAD706JR

    設(shè)訃不當(dāng)可分為電路設(shè)計(jì)不當(dāng)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)及工藝設(shè)計(jì)不當(dāng)?shù)�。不論哪種設(shè)計(jì)不當(dāng)，都會(huì)使元器件在應(yīng)用時(shí)受損而失效。設(shè)計(jì)不當(dāng)造成元器件的失效率較高，且會(huì)反復(fù)出現(xiàn)。
    例如，某整機(jī)上的CMOS集成電路，在低溫條件下工作失常，而在常溫下又恢復(fù)正常工作。造成這種失效的原因是CMOS電路在低溫下工作時(shí)，其延遲時(shí)間縮短了將近40%，使電路的邏輯關(guān)系發(fā)生錯(cuò)誤。這說明在電路設(shè)計(jì)時(shí)沒有考慮CMOS電路的這一特點(diǎn)。

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相關(guān)IC型號(hào): AD706JR; AD7001AS; AD7001ES; AD7002AS; AD7002KS; AD7003AR; AD7003ES; AD7004AR; AD7008AP20; AD7008AP-20; AD7008AP50

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引起電子元器件失效的主要原因

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