元器件選型不當(dāng)也是電子設(shè)備經(jīng)常發(fā)生失效的原因之一，主要是設(shè)計人員對元器件參數(shù)及性能了解不全面或考慮不周，致使設(shè)計中所選用的元器件無法滿足電路要求。元器件選型不當(dāng)會造成在使用過程中大量的元器件失效。 ADG409BR    

    例如，如圖1-2所示的三端穩(wěn)壓器穩(wěn)壓電路，在高溫下試驗時經(jīng)常發(fā)生C．鉭電解電容器擊穿失效。造成這種失效的原因是C．的耐壓參數(shù)選擇得過低，當(dāng)Cl在高溫條件下使喟時，其漏電流便會明顯上升，其耐壓的溫度降額系數(shù)已不容忽視。如果考慮到電源波形脈沖因素和其他雜波尖峰，C．的耐壓降額系數(shù)選0.7較為合適。將Cl電容器更換為lOOt/F/35V，便不會出現(xiàn)Cl的失效現(xiàn)象。