電子元器件的失效分析就是通過對應(yīng)用中出現(xiàn)的失效元器件進(jìn)行物理、化學(xué)、金相等試驗及各種測試，確定元器件失效的模式：分析造成元器件失效的性質(zhì)，尋找出元器件失效的原因，為提高元器件固有質(zhì)量和應(yīng)用的可靠性提供科學(xué)依據(jù)，以便制定出糾正和改進(jìn)措施。AD706J  
    加強電子元器件的失效分析，也是改進(jìn)電子設(shè)備質(zhì)量最積極、最根本的辦法，可有效地提高元器件固有可靠性和應(yīng)用可靠性，這對提高整機產(chǎn)品的可靠性有著十分重要的意義。
    失效分析在提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性方面所發(fā)揮的作用有以下幾點：
    ①失效分析可為元器件生產(chǎn)單位提供質(zhì)量信息，為他們改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量提供依據(jù)，可有效地提高電子元器件的固有可靠性。
    ②失效分析可尋找出元器件應(yīng)用失效的原因，為整機生產(chǎn)單位提供改進(jìn)工作建議，以便采取積極措施糾正設(shè)計或應(yīng)用不當(dāng)出現(xiàn)的問題，提高元器件的應(yīng)用可靠性。
    ③失效分析可以確定電子元器件的失效性質(zhì)和失效原因，為處理出現(xiàn)的質(zhì)量問題提供科學(xué)依據(jù)。