基本概念
發(fā)布時間:2012/4/20 19:04:20 訪問次數(shù):644
產(chǎn)品的功能（質(zhì)量特性值）y不僅與目MMA8452標值m之間可能會存在差異，而且由于來自使用環(huán)境、時間因素以及生產(chǎn)條件等多方面的干擾而使功能產(chǎn)生波動，從而遣成損失。例如，電子元器件的性能會隨著使用時間的延長而進入磨損老化期，失效明顯增多；發(fā)光器件的亮度會由于輸入電源電壓的變化而引起波動，燈管也會隨著使用時間的推移而老化使燈光亮度變差。引起產(chǎn)功能波動的原因大致可以分為外干擾（外噪聲）、內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）、產(chǎn)品間的波動三種類型‘¨]。
(1)外干擾（外噪聲）
產(chǎn)品在使用或運輸時，由于使用條件及環(huán)境條件（如溫度、濕度、塵埃、輸入電壓、操作者等）的波動或變化會引起產(chǎn)品功能波動，我們將這種使用條件和環(huán)境條件的波動稱為外干擾或外噪聲。例如，液晶顯示器件的清晰度與輸入電壓的大小有密切關(guān)系。
(2)內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）
產(chǎn)品在貯存或使用過程中，隨著時間的推移，會發(fā)生材料磨損或變質(zhì)等老化現(xiàn)象，從而引起產(chǎn)品功能波動，則稱這種產(chǎn)品老化或劣化為內(nèi)干擾或內(nèi)噪聲。例如電阻器的阻值(R)、晶體管的放大倍數(shù)(^，。)等會隨著時間的推移而改變。
(3)產(chǎn)品間的波動
在相同生產(chǎn)條件下制造出來的產(chǎn)品，由于機器、材料、加工方法、操作人員和環(huán)境的微小變化，將引起產(chǎn)品之間質(zhì)量特性值的參差不齊，則稱這種在制造過程中出現(xiàn)的質(zhì)量特性值的波動為產(chǎn)品間波動。例如，同一批號的電阻，其電阻值也有差異；按同一設(shè)計圖紙在相同生產(chǎn)條件下加工一批機械零件，其尺寸有差異。
為了使電子元器件的可霏性能達到規(guī)定的使用要求，即使電子元器件質(zhì)量特性值保持穩(wěn)定或其變化速度減慢，例如針對產(chǎn)品性能參數(shù)產(chǎn)生蠕變、漂移、突變、瞬時變化或間歇變化的失效原因，除了盡量減少上述三個方面的影響外，最主要的是要從設(shè)計上考慮外干擾、內(nèi)干擾和產(chǎn)品間的波動這三種干擾的影響，使產(chǎn)品具有較強的抗干擾能力，這種設(shè)計稱為穩(wěn)定性設(shè)計。穩(wěn)定性設(shè)計又稱穩(wěn)健性設(shè)計，是一種長壽命設(shè)計技術(shù)。
長壽命設(shè)計技術(shù)主要針對影響產(chǎn)品壽命的因素，采取延緩其耗損失效發(fā)生的設(shè)計措施，并達到控制或消除與時間有關(guān)的理化效應(yīng)，諸如氧化、腐蝕、析出、蒸發(fā)、凝聚、電解、形變、擴散、遷移、裂紋傳播、磨損和疲勞等。
在穩(wěn)定性設(shè)計中常采用的技術(shù)主要是系統(tǒng)或功能設(shè)計、參數(shù)設(shè)計和容差設(shè)計技術(shù)。
在解決半導(dǎo)體集成電路的穩(wěn)定性問題上，一般從線路設(shè)計（根據(jù)容差分析結(jié)果，對線路進行容差和冗余的優(yōu)化設(shè)計）、版圖設(shè)計人手，通過工藝控制，集中解決表面的不完整性（如界面陷阱和氧化層電荷密度等）和體內(nèi)的不完整性（晶格缺陷等）。
(1)外干擾（外噪聲）
產(chǎn)品在使用或運輸時，由于使用條件及環(huán)境條件（如溫度、濕度、塵埃、輸入電壓、操作者等）的波動或變化會引起產(chǎn)品功能波動，我們將這種使用條件和環(huán)境條件的波動稱為外干擾或外噪聲。例如，液晶顯示器件的清晰度與輸入電壓的大小有密切關(guān)系。
(2)內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）
產(chǎn)品在貯存或使用過程中，隨著時間的推移，會發(fā)生材料磨損或變質(zhì)等老化現(xiàn)象，從而引起產(chǎn)品功能波動，則稱這種產(chǎn)品老化或劣化為內(nèi)干擾或內(nèi)噪聲。例如電阻器的阻值(R)、晶體管的放大倍數(shù)(^，。)等會隨著時間的推移而改變。
(3)產(chǎn)品間的波動
在相同生產(chǎn)條件下制造出來的產(chǎn)品，由于機器、材料、加工方法、操作人員和環(huán)境的微小變化，將引起產(chǎn)品之間質(zhì)量特性值的參差不齊，則稱這種在制造過程中出現(xiàn)的質(zhì)量特性值的波動為產(chǎn)品間波動。例如，同一批號的電阻，其電阻值也有差異；按同一設(shè)計圖紙在相同生產(chǎn)條件下加工一批機械零件，其尺寸有差異。
為了使電子元器件的可霏性能達到規(guī)定的使用要求，即使電子元器件質(zhì)量特性值保持穩(wěn)定或其變化速度減慢，例如針對產(chǎn)品性能參數(shù)產(chǎn)生蠕變、漂移、突變、瞬時變化或間歇變化的失效原因，除了盡量減少上述三個方面的影響外，最主要的是要從設(shè)計上考慮外干擾、內(nèi)干擾和產(chǎn)品間的波動這三種干擾的影響，使產(chǎn)品具有較強的抗干擾能力，這種設(shè)計稱為穩(wěn)定性設(shè)計。穩(wěn)定性設(shè)計又稱穩(wěn)健性設(shè)計，是一種長壽命設(shè)計技術(shù)。
長壽命設(shè)計技術(shù)主要針對影響產(chǎn)品壽命的因素，采取延緩其耗損失效發(fā)生的設(shè)計措施，并達到控制或消除與時間有關(guān)的理化效應(yīng)，諸如氧化、腐蝕、析出、蒸發(fā)、凝聚、電解、形變、擴散、遷移、裂紋傳播、磨損和疲勞等。
在穩(wěn)定性設(shè)計中常采用的技術(shù)主要是系統(tǒng)或功能設(shè)計、參數(shù)設(shè)計和容差設(shè)計技術(shù)。
在解決半導(dǎo)體集成電路的穩(wěn)定性問題上，一般從線路設(shè)計（根據(jù)容差分析結(jié)果，對線路進行容差和冗余的優(yōu)化設(shè)計）、版圖設(shè)計人手，通過工藝控制，集中解決表面的不完整性（如界面陷阱和氧化層電荷密度等）和體內(nèi)的不完整性（晶格缺陷等）。
產(chǎn)品的功能（質(zhì)量特性值）y不僅與目MMA8452標值m之間可能會存在差異，而且由于來自使用環(huán)境、時間因素以及生產(chǎn)條件等多方面的干擾而使功能產(chǎn)生波動，從而遣成損失。例如，電子元器件的性能會隨著使用時間的延長而進入磨損老化期，失效明顯增多；發(fā)光器件的亮度會由于輸入電源電壓的變化而引起波動，燈管也會隨著使用時間的推移而老化使燈光亮度變差。引起產(chǎn)功能波動的原因大致可以分為外干擾（外噪聲）、內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）、產(chǎn)品間的波動三種類型‘¨]。
(1)外干擾（外噪聲）
產(chǎn)品在使用或運輸時，由于使用條件及環(huán)境條件（如溫度、濕度、塵埃、輸入電壓、操作者等）的波動或變化會引起產(chǎn)品功能波動，我們將這種使用條件和環(huán)境條件的波動稱為外干擾或外噪聲。例如，液晶顯示器件的清晰度與輸入電壓的大小有密切關(guān)系。
(2)內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）
產(chǎn)品在貯存或使用過程中，隨著時間的推移，會發(fā)生材料磨損或變質(zhì)等老化現(xiàn)象，從而引起產(chǎn)品功能波動，則稱這種產(chǎn)品老化或劣化為內(nèi)干擾或內(nèi)噪聲。例如電阻器的阻值(R)、晶體管的放大倍數(shù)(^，。)等會隨著時間的推移而改變。
(3)產(chǎn)品間的波動
在相同生產(chǎn)條件下制造出來的產(chǎn)品，由于機器、材料、加工方法、操作人員和環(huán)境的微小變化，將引起產(chǎn)品之間質(zhì)量特性值的參差不齊，則稱這種在制造過程中出現(xiàn)的質(zhì)量特性值的波動為產(chǎn)品間波動。例如，同一批號的電阻，其電阻值也有差異；按同一設(shè)計圖紙在相同生產(chǎn)條件下加工一批機械零件，其尺寸有差異。
為了使電子元器件的可霏性能達到規(guī)定的使用要求，即使電子元器件質(zhì)量特性值保持穩(wěn)定或其變化速度減慢，例如針對產(chǎn)品性能參數(shù)產(chǎn)生蠕變、漂移、突變、瞬時變化或間歇變化的失效原因，除了盡量減少上述三個方面的影響外，最主要的是要從設(shè)計上考慮外干擾、內(nèi)干擾和產(chǎn)品間的波動這三種干擾的影響，使產(chǎn)品具有較強的抗干擾能力，這種設(shè)計稱為穩(wěn)定性設(shè)計。穩(wěn)定性設(shè)計又稱穩(wěn)健性設(shè)計，是一種長壽命設(shè)計技術(shù)。
長壽命設(shè)計技術(shù)主要針對影響產(chǎn)品壽命的因素，采取延緩其耗損失效發(fā)生的設(shè)計措施，并達到控制或消除與時間有關(guān)的理化效應(yīng)，諸如氧化、腐蝕、析出、蒸發(fā)、凝聚、電解、形變、擴散、遷移、裂紋傳播、磨損和疲勞等。
在穩(wěn)定性設(shè)計中常采用的技術(shù)主要是系統(tǒng)或功能設(shè)計、參數(shù)設(shè)計和容差設(shè)計技術(shù)。
在解決半導(dǎo)體集成電路的穩(wěn)定性問題上，一般從線路設(shè)計（根據(jù)容差分析結(jié)果，對線路進行容差和冗余的優(yōu)化設(shè)計）、版圖設(shè)計人手，通過工藝控制，集中解決表面的不完整性（如界面陷阱和氧化層電荷密度等）和體內(nèi)的不完整性（晶格缺陷等）。
(1)外干擾（外噪聲）
產(chǎn)品在使用或運輸時，由于使用條件及環(huán)境條件（如溫度、濕度、塵埃、輸入電壓、操作者等）的波動或變化會引起產(chǎn)品功能波動，我們將這種使用條件和環(huán)境條件的波動稱為外干擾或外噪聲。例如，液晶顯示器件的清晰度與輸入電壓的大小有密切關(guān)系。
(2)內(nèi)干擾（內(nèi)噪聲）
產(chǎn)品在貯存或使用過程中，隨著時間的推移，會發(fā)生材料磨損或變質(zhì)等老化現(xiàn)象，從而引起產(chǎn)品功能波動，則稱這種產(chǎn)品老化或劣化為內(nèi)干擾或內(nèi)噪聲。例如電阻器的阻值(R)、晶體管的放大倍數(shù)(^，。)等會隨著時間的推移而改變。
(3)產(chǎn)品間的波動
在相同生產(chǎn)條件下制造出來的產(chǎn)品，由于機器、材料、加工方法、操作人員和環(huán)境的微小變化，將引起產(chǎn)品之間質(zhì)量特性值的參差不齊，則稱這種在制造過程中出現(xiàn)的質(zhì)量特性值的波動為產(chǎn)品間波動。例如，同一批號的電阻，其電阻值也有差異；按同一設(shè)計圖紙在相同生產(chǎn)條件下加工一批機械零件，其尺寸有差異。
為了使電子元器件的可霏性能達到規(guī)定的使用要求，即使電子元器件質(zhì)量特性值保持穩(wěn)定或其變化速度減慢，例如針對產(chǎn)品性能參數(shù)產(chǎn)生蠕變、漂移、突變、瞬時變化或間歇變化的失效原因，除了盡量減少上述三個方面的影響外，最主要的是要從設(shè)計上考慮外干擾、內(nèi)干擾和產(chǎn)品間的波動這三種干擾的影響，使產(chǎn)品具有較強的抗干擾能力，這種設(shè)計稱為穩(wěn)定性設(shè)計。穩(wěn)定性設(shè)計又稱穩(wěn)健性設(shè)計，是一種長壽命設(shè)計技術(shù)。
長壽命設(shè)計技術(shù)主要針對影響產(chǎn)品壽命的因素，采取延緩其耗損失效發(fā)生的設(shè)計措施，并達到控制或消除與時間有關(guān)的理化效應(yīng)，諸如氧化、腐蝕、析出、蒸發(fā)、凝聚、電解、形變、擴散、遷移、裂紋傳播、磨損和疲勞等。
在穩(wěn)定性設(shè)計中常采用的技術(shù)主要是系統(tǒng)或功能設(shè)計、參數(shù)設(shè)計和容差設(shè)計技術(shù)。
在解決半導(dǎo)體集成電路的穩(wěn)定性問題上，一般從線路設(shè)計（根據(jù)容差分析結(jié)果，對線路進行容差和冗余的優(yōu)化設(shè)計）、版圖設(shè)計人手，通過工藝控制，集中解決表面的不完整性（如界面陷阱和氧化層電荷密度等）和體內(nèi)的不完整性（晶格缺陷等）。
相關(guān)技術(shù)資料- 4-20基本概念
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- MMA8452
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