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異質(zhì)結(jié)場(chǎng)效應(yīng)晶體管(HEMT、HFET或MODFET)

發(fā)布時(shí)間:2012/4/26 19:36:37 訪問(wèn)次數(shù):7002

    HEMT是采用GaAs/n-AIGaAs,用選擇(調(diào)制)摻雜MUR860G的異質(zhì)結(jié)構(gòu)FET,它以GaAs為電子輸運(yùn)區(qū),以n-GaAs為電子供給區(qū)。在HEMT中,用一層寬帶隙半導(dǎo)體材料將柵與溝道隔開(kāi),當(dāng)外加?xùn)烹妷捍笥陂撝惦妷簳r(shí),在寬帶隙半導(dǎo)體層和窄帶隙半導(dǎo)體層的界面處,即異質(zhì)結(jié)的溝道中會(huì)形成二維電子氣(2DEG)。由于2DEG脫離了母休雜質(zhì)的散射,又被限制在異質(zhì)結(jié)界面附近非常窄的區(qū)域內(nèi),與異質(zhì)結(jié)界面垂直的電子運(yùn)動(dòng)被量子化,故溝道載流子具有很高的遷移率,源一漏電流就是由這樣的2DEG來(lái)輸運(yùn)的。2DEG是極薄的一層,大約在lOnm左右,相當(dāng)于20個(gè)原子層厚,而其摻雜濃度ns很高,ns在1011~l012 cnl-2以上。由此形成HEMT中的導(dǎo)電溝道,在一定的漏源電壓作用下,2DEG將作定向漂移,形成相應(yīng)的漏源電流。隨著漏源電壓的升高,2DEG的漂移速度將逐漸增大,并在一定的DS下,達(dá)到飽和漂移速度,導(dǎo)致漏源電流出現(xiàn)飽和。從其工作原理而言,與同為場(chǎng)效應(yīng)管的FET器件相似,其不同之處如:HEMT柵壓控制的是二維溝道中的2DEG,而MOSFET控制的是反型層,MESFET控制的則是柵下有源層的未耗盡部分。HEMT的N-AIGaAs層和MOSFET的Si02絕緣層、MESFET柵下的耗盡層地位相當(dāng),但它的厚度、摻雜濃度、表面狀態(tài)等對(duì)器件的工作模式及特性影響很大。HEMT的工作模式也有耗盡(D)型和增強(qiáng)(E)型兩種,導(dǎo)電溝道也有N溝和P溝之分,常見(jiàn)的N溝耗盡型器件,其電子遷移率和飽和漂移速度都比空穴的高得多。
    AIGaAs/GaAs HEMT力了提高該類器件的特性,在器件的結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)上應(yīng)考慮:

    ①選擇電子遷移率及飽和速度更高的材料。
    ②選擇帶隙范圍較大的異質(zhì)結(jié)材料。
    ③選擇晶格匹配良好的材料。
    ④減少電子供給層的厚度。
    ⑤提高2DEG的濃度。
    ⑥縮短溝道長(zhǎng)度L,增大柵寬W。
    ⑦選擇接觸電阻小的金屬化電極材料。
    其中減少柵長(zhǎng)L是提高HEMT特性的最有效途徑。L越小就越高則越低,從而有利于f及fM的提高。一般在相同柵長(zhǎng)下,HEMT比GaAs MES-FET的fT高出約2倍;當(dāng)fT> 80GHz,要獲得最佳增益,單指柵長(zhǎng)須設(shè)計(jì)在0. 25pm以下。但隨著柵長(zhǎng)的逐步縮小又將出現(xiàn)短溝效應(yīng)和柵電阻增加的新問(wèn)題。HEMT由于具有調(diào)制摻雜異質(zhì)結(jié)構(gòu),使低場(chǎng)下電子遷移率及飽和速度明顯提高,故具有比GaAs MESFET更高的截止頻率,更小的噪聲;同時(shí)因溝道導(dǎo)電載流子密度大又可具有更大的電流密度和跨導(dǎo)。而且小電流下其跨導(dǎo)仍然很大,在克服短溝效應(yīng)方面具有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。
    PHEMT是一種贗配高電子遷移率晶體管,其主要的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是用未摻雜的InGaAs層代替普通HEMT中的未摻雜GaAs層作為2DEG溝道層,形成N-Al-GaAs/i-InGaAs] i-GaAs核心結(jié)構(gòu)。未糝雜的InGaAs層被稱為“贗”層。實(shí)質(zhì)上該器件是一雙異質(zhì)結(jié)量子阱器件。和普通HEMT相比,PHEMT具有下列特點(diǎn):
    ①載流子遷移率更高。電子在InGaAs中有效質(zhì)量小,室溫下,遷移率可達(dá)6000cr12/(V.s),較GaAs中電子遷移率提高了9%,平均飽和速度提高了約70%。
    ②2DEG的密度更大,比普通HEMT的ns高兩倍。
    ③消除了DX中心的影響,改善了VT的溫度性能及FV特性。
    因此,PHEMT應(yīng)具有更高的頻率,更低的噪聲,更高的跨導(dǎo)和更大的電流處理能力。在InP HEMT中以InAIAs為電子供給層,以InGaAs為2DEG溝道層,N+ -InAIAs/i-InGaAs是其核心異質(zhì)結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)對(duì)電子具有更好的限制,因而2DEG的密度高,具有更高的截止頻率和更低的噪聲。同時(shí),增大In-GaAs層中的In組分,形成贗配InP HEMT,可獲得更大的電子遷移率及2DEG的面密度,從而進(jìn)一步提高器件的跨導(dǎo)和工作頻率,是毫米波高端應(yīng)用的支柱器件。

    HEMT是采用GaAs/n-AIGaAs,用選擇(調(diào)制)摻雜MUR860G的異質(zhì)結(jié)構(gòu)FET,它以GaAs為電子輸運(yùn)區(qū),以n-GaAs為電子供給區(qū)。在HEMT中,用一層寬帶隙半導(dǎo)體材料將柵與溝道隔開(kāi),當(dāng)外加?xùn)烹妷捍笥陂撝惦妷簳r(shí),在寬帶隙半導(dǎo)體層和窄帶隙半導(dǎo)體層的界面處,即異質(zhì)結(jié)的溝道中會(huì)形成二維電子氣(2DEG)。由于2DEG脫離了母休雜質(zhì)的散射,又被限制在異質(zhì)結(jié)界面附近非常窄的區(qū)域內(nèi),與異質(zhì)結(jié)界面垂直的電子運(yùn)動(dòng)被量子化,故溝道載流子具有很高的遷移率,源一漏電流就是由這樣的2DEG來(lái)輸運(yùn)的。2DEG是極薄的一層,大約在lOnm左右,相當(dāng)于20個(gè)原子層厚,而其摻雜濃度ns很高,ns在1011~l012 cnl-2以上。由此形成HEMT中的導(dǎo)電溝道,在一定的漏源電壓作用下,2DEG將作定向漂移,形成相應(yīng)的漏源電流。隨著漏源電壓的升高,2DEG的漂移速度將逐漸增大,并在一定的DS下,達(dá)到飽和漂移速度,導(dǎo)致漏源電流出現(xiàn)飽和。從其工作原理而言,與同為場(chǎng)效應(yīng)管的FET器件相似,其不同之處如:HEMT柵壓控制的是二維溝道中的2DEG,而MOSFET控制的是反型層,MESFET控制的則是柵下有源層的未耗盡部分。HEMT的N-AIGaAs層和MOSFET的Si02絕緣層、MESFET柵下的耗盡層地位相當(dāng),但它的厚度、摻雜濃度、表面狀態(tài)等對(duì)器件的工作模式及特性影響很大。HEMT的工作模式也有耗盡(D)型和增強(qiáng)(E)型兩種,導(dǎo)電溝道也有N溝和P溝之分,常見(jiàn)的N溝耗盡型器件,其電子遷移率和飽和漂移速度都比空穴的高得多。
    AIGaAs/GaAs HEMT力了提高該類器件的特性,在器件的結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)上應(yīng)考慮:

    ①選擇電子遷移率及飽和速度更高的材料。
    ②選擇帶隙范圍較大的異質(zhì)結(jié)材料。
    ③選擇晶格匹配良好的材料。
    ④減少電子供給層的厚度。
    ⑤提高2DEG的濃度。
    ⑥縮短溝道長(zhǎng)度L,增大柵寬W。
    ⑦選擇接觸電阻小的金屬化電極材料。
    其中減少柵長(zhǎng)L是提高HEMT特性的最有效途徑。L越小就越高則越低,從而有利于f及fM的提高。一般在相同柵長(zhǎng)下,HEMT比GaAs MES-FET的fT高出約2倍;當(dāng)fT> 80GHz,要獲得最佳增益,單指柵長(zhǎng)須設(shè)計(jì)在0. 25pm以下。但隨著柵長(zhǎng)的逐步縮小又將出現(xiàn)短溝效應(yīng)和柵電阻增加的新問(wèn)題。HEMT由于具有調(diào)制摻雜異質(zhì)結(jié)構(gòu),使低場(chǎng)下電子遷移率及飽和速度明顯提高,故具有比GaAs MESFET更高的截止頻率,更小的噪聲;同時(shí)因溝道導(dǎo)電載流子密度大又可具有更大的電流密度和跨導(dǎo)。而且小電流下其跨導(dǎo)仍然很大,在克服短溝效應(yīng)方面具有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。
    PHEMT是一種贗配高電子遷移率晶體管,其主要的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是用未摻雜的InGaAs層代替普通HEMT中的未摻雜GaAs層作為2DEG溝道層,形成N-Al-GaAs/i-InGaAs] i-GaAs核心結(jié)構(gòu)。未糝雜的InGaAs層被稱為“贗”層。實(shí)質(zhì)上該器件是一雙異質(zhì)結(jié)量子阱器件。和普通HEMT相比,PHEMT具有下列特點(diǎn):
    ①載流子遷移率更高。電子在InGaAs中有效質(zhì)量小,室溫下,遷移率可達(dá)6000cr12/(V.s),較GaAs中電子遷移率提高了9%,平均飽和速度提高了約70%。
    ②2DEG的密度更大,比普通HEMT的ns高兩倍。
    ③消除了DX中心的影響,改善了VT的溫度性能及FV特性。
    因此,PHEMT應(yīng)具有更高的頻率,更低的噪聲,更高的跨導(dǎo)和更大的電流處理能力。在InP HEMT中以InAIAs為電子供給層,以InGaAs為2DEG溝道層,N+ -InAIAs/i-InGaAs是其核心異質(zhì)結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)對(duì)電子具有更好的限制,因而2DEG的密度高,具有更高的截止頻率和更低的噪聲。同時(shí),增大In-GaAs層中的In組分,形成贗配InP HEMT,可獲得更大的電子遷移率及2DEG的面密度,從而進(jìn)一步提高器件的跨導(dǎo)和工作頻率,是毫米波高端應(yīng)用的支柱器件。

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