由于3a質(zhì)量水平不能滿足現(xiàn)代產(chǎn)THC63LVD1023B品的質(zhì)量要求，必須進行6a質(zhì)量設(shè)計。6a質(zhì)量設(shè)計要根據(jù)各個產(chǎn)品的具體情況來進行，一般常采用下列三種模式：
    ①識別一設(shè)計一優(yōu)化一驗證(IDOV)模式。
    ②定義一測量一分析一設(shè)計一驗證(DMADV)模式。
    ③定義一初始化一設(shè)計一執(zhí)行一維持( DIDES)模式。
    如前所述，理想狀態(tài)下的工藝參數(shù)的分布中心∥與工藝規(guī)范中心值To不可能完全重合，通常存在1. 5a的偏離量(分別見圖9.13和圖9.14)。
    如果工藝滿足6a設(shè)計的要求，則CP=2.0，CPK1.5、工藝成品率為99. 99966%、不合格品率為3.4PPM（工序能力指數(shù)與工藝成品率以及不合格品率的關(guān)系見表9.5），通常以這一情況下的6盯設(shè)計達到的工藝成品率作為評價工藝是否滿足6a設(shè)計要求的參照標準�；蛘哒f，不管工藝參數(shù)分布中心∥與參數(shù)規(guī)范中心To的實際依稀量是多大，只要工藝不合格品率不超過3. 4PPM，就認為該工藝滿足6a設(shè)計的要求。不同設(shè)計水平下的成品率和不合格品率見表9.6。
    6cJ設(shè)計目標實際上是對工序能力指數(shù)的一種特定要求，因此實現(xiàn)6a目標的技術(shù)途徑與提高工序能力指數(shù)、降低工藝不合格品率的技術(shù)途徑是一致的。即均通過采取以下措施：
    ①通過優(yōu)化設(shè)計，使參數(shù)規(guī)范范圍T-  Tu - TL盡量大，或者說使設(shè)計容限盡量大。
    ②改進工藝，使工藝參數(shù)的分散性盡量小，印減少參數(shù)分布的標準偏差仃。
    ③精細調(diào)整工藝條件，使工藝參數(shù)分布中心即均值盧與工藝規(guī)范要求中心值（Tu+TL）／2之間的偏離盡量小。