AERIRL M2飛針測(cè)試儀
發(fā)布時(shí)間:2012/8/12 11:57:56 訪問(wèn)次數(shù):755
AERIRL M2飛針測(cè)試儀MM74LS157N如圖8-14所示。
1) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的特點(diǎn)
(1)小電容測(cè)試。
(2)自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試軌跡。
(3)維修工作站。
(4)測(cè)針軟著陸接觸，將測(cè)試痕跡減到最小。
(5)拼板測(cè)試管理。
(6)自動(dòng)標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別、自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)針。
(7)無(wú)須治具。
(8)2+2個(gè)飛行測(cè)試針，高效快速檢測(cè)電路板。
(9)高精度、高可靠性。
(10)更小的測(cè)試間距，高精度攝像系統(tǒng)，精確接觸測(cè)試點(diǎn)。
(11)測(cè)針壽命在7百萬(wàn)次以上。
(12)高覆蓋率。
(13)該飛針測(cè)試系統(tǒng)傳承了SEICA優(yōu)越的在線測(cè)試機(jī)功能。
(14)選擇BBT測(cè)試頭，同款機(jī)器可以做飛針光板測(cè)試。
(15)簡(jiǎn)單的編程三步完成：準(zhǔn)備+修改十測(cè)試。
(16) FNODE:變頻節(jié)點(diǎn)參數(shù)測(cè)量。
(17)自學(xué)習(xí)功能強(qiáng)，生成測(cè)試參數(shù)、測(cè)試程序。
(18)采用CAD輸入，使用簡(jiǎn)單。
2) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的主要技術(shù)參數(shù)
(1)兩個(gè)飛行測(cè)試針。
(2)兩個(gè)CCD攝像頭。
(3)定位精度：25 p,m。
(4)測(cè)試面積：400mmx500mm。
(5)細(xì)腳間距：lOOym。
(6)最小測(cè)點(diǎn)：75lim。
(7) PCB厚度：<40mm。
1) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的特點(diǎn)
(1)小電容測(cè)試。
(2)自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試軌跡。
(3)維修工作站。
(4)測(cè)針軟著陸接觸，將測(cè)試痕跡減到最小。
(5)拼板測(cè)試管理。
(6)自動(dòng)標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別、自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)針。
(7)無(wú)須治具。
(8)2+2個(gè)飛行測(cè)試針，高效快速檢測(cè)電路板。
(9)高精度、高可靠性。
(10)更小的測(cè)試間距，高精度攝像系統(tǒng)，精確接觸測(cè)試點(diǎn)。
(11)測(cè)針壽命在7百萬(wàn)次以上。
(12)高覆蓋率。
(13)該飛針測(cè)試系統(tǒng)傳承了SEICA優(yōu)越的在線測(cè)試機(jī)功能。
(14)選擇BBT測(cè)試頭，同款機(jī)器可以做飛針光板測(cè)試。
(15)簡(jiǎn)單的編程三步完成：準(zhǔn)備+修改十測(cè)試。
(16) FNODE:變頻節(jié)點(diǎn)參數(shù)測(cè)量。
(17)自學(xué)習(xí)功能強(qiáng)，生成測(cè)試參數(shù)、測(cè)試程序。
(18)采用CAD輸入，使用簡(jiǎn)單。
2) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的主要技術(shù)參數(shù)
(1)兩個(gè)飛行測(cè)試針。
(2)兩個(gè)CCD攝像頭。
(3)定位精度：25 p,m。
(4)測(cè)試面積：400mmx500mm。
(5)細(xì)腳間距：lOOym。
(6)最小測(cè)點(diǎn)：75lim。
(7) PCB厚度：<40mm。
AERIRL M2飛針測(cè)試儀MM74LS157N如圖8-14所示。
1) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的特點(diǎn)
(1)小電容測(cè)試。
(2)自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試軌跡。
(3)維修工作站。
(4)測(cè)針軟著陸接觸，將測(cè)試痕跡減到最小。
(5)拼板測(cè)試管理。
(6)自動(dòng)標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別、自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)針。
(7)無(wú)須治具。
(8)2+2個(gè)飛行測(cè)試針，高效快速檢測(cè)電路板。
(9)高精度、高可靠性。
(10)更小的測(cè)試間距，高精度攝像系統(tǒng)，精確接觸測(cè)試點(diǎn)。
(11)測(cè)針壽命在7百萬(wàn)次以上。
(12)高覆蓋率。
(13)該飛針測(cè)試系統(tǒng)傳承了SEICA優(yōu)越的在線測(cè)試機(jī)功能。
(14)選擇BBT測(cè)試頭，同款機(jī)器可以做飛針光板測(cè)試。
(15)簡(jiǎn)單的編程三步完成：準(zhǔn)備+修改十測(cè)試。
(16) FNODE:變頻節(jié)點(diǎn)參數(shù)測(cè)量。
(17)自學(xué)習(xí)功能強(qiáng)，生成測(cè)試參數(shù)、測(cè)試程序。
(18)采用CAD輸入，使用簡(jiǎn)單。
2) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的主要技術(shù)參數(shù)
(1)兩個(gè)飛行測(cè)試針。
(2)兩個(gè)CCD攝像頭。
(3)定位精度：25 p,m。
(4)測(cè)試面積：400mmx500mm。
(5)細(xì)腳間距：lOOym。
(6)最小測(cè)點(diǎn)：75lim。
(7) PCB厚度：<40mm。
1) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的特點(diǎn)
(1)小電容測(cè)試。
(2)自動(dòng)優(yōu)化測(cè)試軌跡。
(3)維修工作站。
(4)測(cè)針軟著陸接觸，將測(cè)試痕跡減到最小。
(5)拼板測(cè)試管理。
(6)自動(dòng)標(biāo)志點(diǎn)識(shí)別、自動(dòng)校準(zhǔn)測(cè)針。
(7)無(wú)須治具。
(8)2+2個(gè)飛行測(cè)試針，高效快速檢測(cè)電路板。
(9)高精度、高可靠性。
(10)更小的測(cè)試間距，高精度攝像系統(tǒng)，精確接觸測(cè)試點(diǎn)。
(11)測(cè)針壽命在7百萬(wàn)次以上。
(12)高覆蓋率。
(13)該飛針測(cè)試系統(tǒng)傳承了SEICA優(yōu)越的在線測(cè)試機(jī)功能。
(14)選擇BBT測(cè)試頭，同款機(jī)器可以做飛針光板測(cè)試。
(15)簡(jiǎn)單的編程三步完成：準(zhǔn)備+修改十測(cè)試。
(16) FNODE:變頻節(jié)點(diǎn)參數(shù)測(cè)量。
(17)自學(xué)習(xí)功能強(qiáng)，生成測(cè)試參數(shù)、測(cè)試程序。
(18)采用CAD輸入，使用簡(jiǎn)單。
2) AERIRL M2飛針測(cè)試儀的主要技術(shù)參數(shù)
(1)兩個(gè)飛行測(cè)試針。
(2)兩個(gè)CCD攝像頭。
(3)定位精度：25 p,m。
(4)測(cè)試面積：400mmx500mm。
(5)細(xì)腳間距：lOOym。
(6)最小測(cè)點(diǎn)：75lim。
(7) PCB厚度：<40mm。
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