更換FET時(shí)的高頻特性
發(fā)布時(shí)間:2012/8/16 19:44:00 訪問(wèn)次數(shù):1082
為了分析FET高頻特性劣LM723CN化的原因,我們測(cè)定同一電路中僅僅更換FET時(shí)的頻率特性。
圖3.19是圖3.1電路中用2SK241替換2SK184GR時(shí)的高頻特性。這種高頻放大用FET的頻率特性?xún)?yōu)良,截止頻率為15. 2MHz,約是2SK184酌3倍。
圖3.20是圖3.1電路中采用功率開(kāi)關(guān)用N溝MOSFET 2SK612( NEC)時(shí)的高頻特性。電壓增益出現(xiàn)了峰值,fe。為800kHz處的值降低。但是這是僅僅更換了FET的情況,如果重新設(shè)置工作點(diǎn),還可以得到改善。
在高頻范圍電壓增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于裝機(jī)時(shí)裝配不當(dāng),使高頻特性受到影響。
為了改善高頻特性,在實(shí)際裝機(jī)時(shí)布線要短,盡量降低GND的高頻阻抗,并且要采用屏蔽罩。
此外,與使用雙極晶體管時(shí)情況相同,米勒現(xiàn)象也會(huì)使高頻特性下降。
為了分析FET高頻特性劣LM723CN化的原因,我們測(cè)定同一電路中僅僅更換FET時(shí)的頻率特性。
圖3.19是圖3.1電路中用2SK241替換2SK184GR時(shí)的高頻特性。這種高頻放大用FET的頻率特性?xún)?yōu)良,截止頻率為15. 2MHz,約是2SK184酌3倍。
圖3.20是圖3.1電路中采用功率開(kāi)關(guān)用N溝MOSFET 2SK612( NEC)時(shí)的高頻特性。電壓增益出現(xiàn)了峰值,fe。為800kHz處的值降低。但是這是僅僅更換了FET的情況,如果重新設(shè)置工作點(diǎn),還可以得到改善。
在高頻范圍電壓增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于裝機(jī)時(shí)裝配不當(dāng),使高頻特性受到影響。
為了改善高頻特性,在實(shí)際裝機(jī)時(shí)布線要短,盡量降低GND的高頻阻抗,并且要采用屏蔽罩。
此外,與使用雙極晶體管時(shí)情況相同,米勒現(xiàn)象也會(huì)使高頻特性下降。
上一篇:高頻截止頻率
上一篇:如何提高放大倍數(shù)
熱門(mén)點(diǎn)擊
- 簡(jiǎn)易信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)與制作
- 半固定電阻器和可變電阻器
- 濕度計(jì)
- 溫度控制器電路
- 焊膏的組成
- 反饋電路中含有正反饋和負(fù)反饋
- 高頻用阻抗測(cè)試儀器的種類(lèi)
- 小轎車(chē)的車(chē)門(mén)與車(chē)內(nèi)燈之間的關(guān)系
- 磁珠
- 貼裝機(jī)X-y運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)
推薦技術(shù)資料
- 自制智能型ICL7135
- 表頭使ff11CL7135作為ADC,ICL7135是... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開(kāi)
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門(mén)信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究