(1)用示波器測(cè)量信號(hào)發(fā)生A007-EW830-P3器輸出波形，得到頻率為1kHz，Vpf=4V的矩形波。
    (2)實(shí)驗(yàn)電路如圖3.20所示，取L=2.5mH，C=0.01UF，R用20kC1電位器，改變R的阻值，使電路分別處于振蕩和非振蕩狀態(tài)。

            
    (3)信號(hào)發(fā)生器接電路輸入端作為電路的輸入信號(hào)，用示波器觀察電容器兩端波形，改變R的值，分別繪出電路在振蕩和非振蕩狀態(tài)下的波形，分析電路參數(shù)對(duì)二階電路過(guò)渡過(guò)程的影響。
    (4)測(cè)出處于振蕩狀態(tài)下的WO和6值，并與理論值比較。
    2)實(shí)驗(yàn)步驟
    (1)建立如圖3.20所示的實(shí)驗(yàn)電路圖，單擊仿真開(kāi)關(guān)，進(jìn)行電路分析。
    (2)根據(jù)實(shí)驗(yàn)電路圖3.20，取L=2.5 mH，C=0.01UF．尺用20Ul電位器，分析電路處于振蕩和非振蕩狀態(tài)的波形變化。
    (3)根據(jù)實(shí)驗(yàn)電路的輸入，用示波器觀察電容器兩端波形，改變尺的值，分別繪出電路在振蕩和非振蕩狀態(tài)下的波形，分析電路參數(shù)對(duì)二階電路過(guò)渡過(guò)程的影響。
    (4)測(cè)量在振蕩狀態(tài)下的WO和6值，并與理論值進(jìn)行比較，有什么區(qū)別？
    (5)計(jì)算相關(guān)的數(shù)據(jù)和記錄有關(guān)波形。
     4．實(shí)驗(yàn)總結(jié)與分析
    (1)按實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，畫(huà)出過(guò)阻尼、臨界阻尼和欠阻尼各種波形，并測(cè)試各項(xiàng)參數(shù)。
    (2)計(jì)算電路中的甜。和6值，與實(shí)測(cè)值比較，分析產(chǎn)生誤差的原因。