測試各觸發(fā)器及各邏輯門的邏輯功能
發(fā)布時間:2012/9/16 16:04:06 訪問次數(shù):1245
(1)測試各觸發(fā)器及各邏輯W02G-E4/51門的邏輯功能。
(2)按圖6.56接線,搶答器5個開關(guān)接實驗裝置上的邏輯開關(guān),發(fā)光二極管接邏輯電平顯示器。
(3)斷開搶答器電路中的CP脈沖源電路,單獨對多諧振蕩器F,及分頻器F4進行調(diào)誠,調(diào)整多諧振蕩器10 kfl電位器,使其輸出脈沖頻率約為4 kHz,觀察F,及F。輸出波形及測試其頻率。
(4)測試搶答器電路功能
接通+5 V電源,CP端接實驗裝置上的連續(xù)脈沖源,取重復頻率約為1kHz。
①搶答開始前,開關(guān)S1、S2、S3、S4均置0,準備搶答。將開關(guān)S置0,發(fā)光二極管全熄滅,再將S置l。搶答開始,S1、S2、S3、S4某一開關(guān)置’觀察發(fā)光二極管的亮、滅情況,然后再將其他三個開關(guān)中任一個置1,觀察發(fā)光二極管的亮、滅是否改變。
②重復①的內(nèi)容,改變S1、S2、S3、S4任一個開關(guān)狀態(tài),觀察搶答器的工作情況。
③整體測試。斷開實驗裝置上的連續(xù)脈沖源,接入F3及F4,再進行實驗。
實驗總結(jié)與分析
(1)分析智力競賽搶答裝置各部分的功能及工作原理。
(2)總結(jié)數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計、調(diào)試方法。
(3)分析實驗中出現(xiàn)的故障及解決辦法。
(4)回答以下問題:
若在圖6. 56電路中加一個計時功能,要求計時電路顯示時間精確到秒,最多限制為2min,一旦超出限時,則取消搶答權(quán),電路如何改進?
(5)寫出心得、體會與其他。
(1)測試各觸發(fā)器及各邏輯W02G-E4/51門的邏輯功能。
(2)按圖6.56接線,搶答器5個開關(guān)接實驗裝置上的邏輯開關(guān),發(fā)光二極管接邏輯電平顯示器。
(3)斷開搶答器電路中的CP脈沖源電路,單獨對多諧振蕩器F,及分頻器F4進行調(diào)誠,調(diào)整多諧振蕩器10 kfl電位器,使其輸出脈沖頻率約為4 kHz,觀察F,及F。輸出波形及測試其頻率。
(4)測試搶答器電路功能
接通+5 V電源,CP端接實驗裝置上的連續(xù)脈沖源,取重復頻率約為1kHz。
①搶答開始前,開關(guān)S1、S2、S3、S4均置0,準備搶答。將開關(guān)S置0,發(fā)光二極管全熄滅,再將S置l。搶答開始,S1、S2、S3、S4某一開關(guān)置’觀察發(fā)光二極管的亮、滅情況,然后再將其他三個開關(guān)中任一個置1,觀察發(fā)光二極管的亮、滅是否改變。
②重復①的內(nèi)容,改變S1、S2、S3、S4任一個開關(guān)狀態(tài),觀察搶答器的工作情況。
③整體測試。斷開實驗裝置上的連續(xù)脈沖源,接入F3及F4,再進行實驗。
實驗總結(jié)與分析
(1)分析智力競賽搶答裝置各部分的功能及工作原理。
(2)總結(jié)數(shù)字系統(tǒng)的設(shè)計、調(diào)試方法。
(3)分析實驗中出現(xiàn)的故障及解決辦法。
(4)回答以下問題:
若在圖6. 56電路中加一個計時功能,要求計時電路顯示時間精確到秒,最多限制為2min,一旦超出限時,則取消搶答權(quán),電路如何改進?
(5)寫出心得、體會與其他。
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