器件貼裝后AOI
發(fā)布時間:2012/10/12 19:40:34 訪問次數(shù):1019
器件貼裝后的AOI能及時檢出LT1118CST-2.5以下貼片缺陷：
●元器件漏貼；
●元器件極性貼錯／器件品名識別；
●元器件偏移／歪斜；
●片式元器件測立／直立。
該工位后的AOI，為了能實現(xiàn)快速檢測上述貼片缺陷，通常采用高分辨率彩色CCD，對被測貼片的基板進(jìn)行整體掃描，捕獲被測元器件圖像信息，并通過元器件圖像的外觀匹配、結(jié)構(gòu)以及幾何尺寸的分桁，快速地檢測出有缺陷的元器件以及對貼片工序能力實時統(tǒng)計分析。
所謂的外觀匹配、結(jié)構(gòu)尺寸分析是指CCD攝取元器件圖像信息后，首先將元器件外觀與計算機(jī)程序元器件圖像信息相比較，以判別元器件是否放置錯誤，若能判別出外觀一致，即外觀匹配，則說明器件存在并是正確的器件，并將進(jìn)一步通過結(jié)構(gòu)分析的方法對器件的位置進(jìn)行檢測，從而判別器件是否有偏移、歪斜、側(cè)立、直立等缺陷。
所謂的幾何分析，則是指貼片后的AOI除了能檢測出器件的貼裝故障外，還能精確地測量出元器件貼裝的位置，即能精確地測量出元器件貼裝后引腳與焊盤之間的偏移量AX，AY和△口，正如第1 1章所述，貼片精度不僅取決于貼片機(jī)的貼片精度，而且取決于PCB定位標(biāo)志、焊盤尺寸、元器件、錫膏印刷、機(jī)器調(diào)試等多方面的影響，采用貼片后的AOI則能快速地分析出貼片缺陷，實時統(tǒng)計出貼片機(jī)的Cp/Cpk值，從而使工藝人員知道當(dāng)前貼片工作狀態(tài)，根據(jù)統(tǒng)計出的信息反饋回貼片工位，對貼片進(jìn)行調(diào)整，校準(zhǔn)偏移量，使貼片更加精確，預(yù)防故障的發(fā)生，因而貼片后的AOI是生產(chǎn)流程控制中重要的檢測工具，也是實現(xiàn)“貼片生產(chǎn)零缺陷”控制目標(biāo)不可缺少的工具。
泰瑞達(dá)Optima7200是典型的貼斤后AOI，其彩色CCD的分辨率高達(dá)1兆像素，并采用長焦鏡頭，最小可檢測的元器件尺寸為0.6mmx0.3mm，其檢測精度為±O.lmm/3 cr。
●元器件漏貼；
●元器件極性貼錯／器件品名識別；
●元器件偏移／歪斜；
●片式元器件測立／直立。
該工位后的AOI，為了能實現(xiàn)快速檢測上述貼片缺陷，通常采用高分辨率彩色CCD，對被測貼片的基板進(jìn)行整體掃描，捕獲被測元器件圖像信息，并通過元器件圖像的外觀匹配、結(jié)構(gòu)以及幾何尺寸的分桁，快速地檢測出有缺陷的元器件以及對貼片工序能力實時統(tǒng)計分析。
所謂的外觀匹配、結(jié)構(gòu)尺寸分析是指CCD攝取元器件圖像信息后，首先將元器件外觀與計算機(jī)程序元器件圖像信息相比較，以判別元器件是否放置錯誤，若能判別出外觀一致，即外觀匹配，則說明器件存在并是正確的器件，并將進(jìn)一步通過結(jié)構(gòu)分析的方法對器件的位置進(jìn)行檢測，從而判別器件是否有偏移、歪斜、側(cè)立、直立等缺陷。
所謂的幾何分析，則是指貼片后的AOI除了能檢測出器件的貼裝故障外，還能精確地測量出元器件貼裝的位置，即能精確地測量出元器件貼裝后引腳與焊盤之間的偏移量AX，AY和△口，正如第1 1章所述，貼片精度不僅取決于貼片機(jī)的貼片精度，而且取決于PCB定位標(biāo)志、焊盤尺寸、元器件、錫膏印刷、機(jī)器調(diào)試等多方面的影響，采用貼片后的AOI則能快速地分析出貼片缺陷，實時統(tǒng)計出貼片機(jī)的Cp/Cpk值，從而使工藝人員知道當(dāng)前貼片工作狀態(tài)，根據(jù)統(tǒng)計出的信息反饋回貼片工位，對貼片進(jìn)行調(diào)整，校準(zhǔn)偏移量，使貼片更加精確，預(yù)防故障的發(fā)生，因而貼片后的AOI是生產(chǎn)流程控制中重要的檢測工具，也是實現(xiàn)“貼片生產(chǎn)零缺陷”控制目標(biāo)不可缺少的工具。
泰瑞達(dá)Optima7200是典型的貼斤后AOI，其彩色CCD的分辨率高達(dá)1兆像素，并采用長焦鏡頭，最小可檢測的元器件尺寸為0.6mmx0.3mm，其檢測精度為±O.lmm/3 cr。
器件貼裝后的AOI能及時檢出LT1118CST-2.5以下貼片缺陷：
●元器件漏貼；
●元器件極性貼錯／器件品名識別；
●元器件偏移／歪斜；
●片式元器件測立／直立。
該工位后的AOI，為了能實現(xiàn)快速檢測上述貼片缺陷，通常采用高分辨率彩色CCD，對被測貼片的基板進(jìn)行整體掃描，捕獲被測元器件圖像信息，并通過元器件圖像的外觀匹配、結(jié)構(gòu)以及幾何尺寸的分桁，快速地檢測出有缺陷的元器件以及對貼片工序能力實時統(tǒng)計分析。
所謂的外觀匹配、結(jié)構(gòu)尺寸分析是指CCD攝取元器件圖像信息后，首先將元器件外觀與計算機(jī)程序元器件圖像信息相比較，以判別元器件是否放置錯誤，若能判別出外觀一致，即外觀匹配，則說明器件存在并是正確的器件，并將進(jìn)一步通過結(jié)構(gòu)分析的方法對器件的位置進(jìn)行檢測，從而判別器件是否有偏移、歪斜、側(cè)立、直立等缺陷。
所謂的幾何分析，則是指貼片后的AOI除了能檢測出器件的貼裝故障外，還能精確地測量出元器件貼裝的位置，即能精確地測量出元器件貼裝后引腳與焊盤之間的偏移量AX，AY和△口，正如第1 1章所述，貼片精度不僅取決于貼片機(jī)的貼片精度，而且取決于PCB定位標(biāo)志、焊盤尺寸、元器件、錫膏印刷、機(jī)器調(diào)試等多方面的影響，采用貼片后的AOI則能快速地分析出貼片缺陷，實時統(tǒng)計出貼片機(jī)的Cp/Cpk值，從而使工藝人員知道當(dāng)前貼片工作狀態(tài)，根據(jù)統(tǒng)計出的信息反饋回貼片工位，對貼片進(jìn)行調(diào)整，校準(zhǔn)偏移量，使貼片更加精確，預(yù)防故障的發(fā)生，因而貼片后的AOI是生產(chǎn)流程控制中重要的檢測工具，也是實現(xiàn)“貼片生產(chǎn)零缺陷”控制目標(biāo)不可缺少的工具。
泰瑞達(dá)Optima7200是典型的貼斤后AOI，其彩色CCD的分辨率高達(dá)1兆像素，并采用長焦鏡頭，最小可檢測的元器件尺寸為0.6mmx0.3mm，其檢測精度為±O.lmm/3 cr。
●元器件漏貼；
●元器件極性貼錯／器件品名識別；
●元器件偏移／歪斜；
●片式元器件測立／直立。
該工位后的AOI，為了能實現(xiàn)快速檢測上述貼片缺陷，通常采用高分辨率彩色CCD，對被測貼片的基板進(jìn)行整體掃描，捕獲被測元器件圖像信息，并通過元器件圖像的外觀匹配、結(jié)構(gòu)以及幾何尺寸的分桁，快速地檢測出有缺陷的元器件以及對貼片工序能力實時統(tǒng)計分析。
所謂的外觀匹配、結(jié)構(gòu)尺寸分析是指CCD攝取元器件圖像信息后，首先將元器件外觀與計算機(jī)程序元器件圖像信息相比較，以判別元器件是否放置錯誤，若能判別出外觀一致，即外觀匹配，則說明器件存在并是正確的器件，并將進(jìn)一步通過結(jié)構(gòu)分析的方法對器件的位置進(jìn)行檢測，從而判別器件是否有偏移、歪斜、側(cè)立、直立等缺陷。
所謂的幾何分析，則是指貼片后的AOI除了能檢測出器件的貼裝故障外，還能精確地測量出元器件貼裝的位置，即能精確地測量出元器件貼裝后引腳與焊盤之間的偏移量AX，AY和△口，正如第1 1章所述，貼片精度不僅取決于貼片機(jī)的貼片精度，而且取決于PCB定位標(biāo)志、焊盤尺寸、元器件、錫膏印刷、機(jī)器調(diào)試等多方面的影響，采用貼片后的AOI則能快速地分析出貼片缺陷，實時統(tǒng)計出貼片機(jī)的Cp/Cpk值，從而使工藝人員知道當(dāng)前貼片工作狀態(tài)，根據(jù)統(tǒng)計出的信息反饋回貼片工位，對貼片進(jìn)行調(diào)整，校準(zhǔn)偏移量，使貼片更加精確，預(yù)防故障的發(fā)生，因而貼片后的AOI是生產(chǎn)流程控制中重要的檢測工具，也是實現(xiàn)“貼片生產(chǎn)零缺陷”控制目標(biāo)不可缺少的工具。
泰瑞達(dá)Optima7200是典型的貼斤后AOI，其彩色CCD的分辨率高達(dá)1兆像素，并采用長焦鏡頭，最小可檢測的元器件尺寸為0.6mmx0.3mm，其檢測精度為±O.lmm/3 cr。
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