環(huán)境試驗方法和試驗設備研究
發(fā)布時間:2012/10/18 19:17:34 訪問次數(shù):513
環(huán)境試驗方法研究尋求最可靠的PFL4517-222ME試驗設備，最合理的技術途徑，最恰當?shù)脑囼灲Y論評價體系，來實現(xiàn)環(huán)境標準規(guī)定的試驗目的（詳見第6章）。
環(huán)境試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備對環(huán)境的適應性。為設備投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可靠性試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備的可靠性，為設備能否投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可見，環(huán)境試驗的目的不同，其環(huán)境平臺也不相同。高水平的環(huán)境試驗設備和檢測系統(tǒng)是確保準確地再現(xiàn)環(huán)境平臺中各類環(huán)境條件的基本手段。
在單項環(huán)境試驗時，主要考核單項參數(shù)對電子設備影響的程度。單項環(huán)境試驗項目一般有20多項，且試驗時間比較短，除霉菌試驗（28天）、濕熱試驗(-240h)外，一般都不超過lOOh�？煽啃栽囼炛�，試驗時間長，而且嚴格要求進稈綜合模擬，一般應考慮濕度、振動和溫度3個對可靠性起決定性作用的因素進行綜合試驗。
另外，環(huán)境試驗和可靠性試驗選用的環(huán)境嚴酷等級（應力）基本準則也完全不同。在環(huán)境試驗中，基本上采用極值準則，即采用設備儲存、運輸和工作中遇到的最極端環(huán)境試驗條件，也即設備在極端環(huán)境條件下不破壞或能正常工作。因此，環(huán)境試驗時是不允許出現(xiàn)故障的，一旦出現(xiàn)故障，則認為設備的試驗未通過并應立即停止；必須在采取相應措施消除故障后才能重新進行試驗。
而可靠性試驗則更強調(diào)模擬設備的真實使用環(huán)境，在可靠性試驗時，只有一小部分試驗條件的嚴酷等級達到最嚴酷的環(huán)境條件嚴酷等級，且其試驗時間與實際暴露時間相對應�？煽啃栽囼炇且环N用統(tǒng)計概率表示的試驗結果，試驗中允許選用環(huán)境素的數(shù)目，并允許出現(xiàn)一定數(shù)量的故障，出現(xiàn)故障后進行修復并記錄失效情況（關聯(lián)失效與非關聯(lián)失效）、維修時間及計算平均無故障時間等。
環(huán)境試驗可以看做可靠性試驗的早期部分，在環(huán)境試驗中發(fā)現(xiàn)和解決問題，有助于克服和消除設備的薄弱環(huán)節(jié)，可以說，環(huán)境試驗是可靠性試驗的基礎和前提條件。在電子設備研制的方案論證最初階段而不是“木已成舟”階段，就必須準確地，而不是大約地搞清電子設備的環(huán)境平臺，暫且稱為“吃透源頭”。
環(huán)境試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備對環(huán)境的適應性。為設備投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可靠性試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備的可靠性，為設備能否投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可見，環(huán)境試驗的目的不同，其環(huán)境平臺也不相同。高水平的環(huán)境試驗設備和檢測系統(tǒng)是確保準確地再現(xiàn)環(huán)境平臺中各類環(huán)境條件的基本手段。
在單項環(huán)境試驗時，主要考核單項參數(shù)對電子設備影響的程度。單項環(huán)境試驗項目一般有20多項，且試驗時間比較短，除霉菌試驗（28天）、濕熱試驗(-240h)外，一般都不超過lOOh�？煽啃栽囼炛�，試驗時間長，而且嚴格要求進稈綜合模擬，一般應考慮濕度、振動和溫度3個對可靠性起決定性作用的因素進行綜合試驗。
另外，環(huán)境試驗和可靠性試驗選用的環(huán)境嚴酷等級（應力）基本準則也完全不同。在環(huán)境試驗中，基本上采用極值準則，即采用設備儲存、運輸和工作中遇到的最極端環(huán)境試驗條件，也即設備在極端環(huán)境條件下不破壞或能正常工作。因此，環(huán)境試驗時是不允許出現(xiàn)故障的，一旦出現(xiàn)故障，則認為設備的試驗未通過并應立即停止；必須在采取相應措施消除故障后才能重新進行試驗。
而可靠性試驗則更強調(diào)模擬設備的真實使用環(huán)境，在可靠性試驗時，只有一小部分試驗條件的嚴酷等級達到最嚴酷的環(huán)境條件嚴酷等級，且其試驗時間與實際暴露時間相對應�？煽啃栽囼炇且环N用統(tǒng)計概率表示的試驗結果，試驗中允許選用環(huán)境素的數(shù)目，并允許出現(xiàn)一定數(shù)量的故障，出現(xiàn)故障后進行修復并記錄失效情況（關聯(lián)失效與非關聯(lián)失效）、維修時間及計算平均無故障時間等。
環(huán)境試驗可以看做可靠性試驗的早期部分，在環(huán)境試驗中發(fā)現(xiàn)和解決問題，有助于克服和消除設備的薄弱環(huán)節(jié)，可以說，環(huán)境試驗是可靠性試驗的基礎和前提條件。在電子設備研制的方案論證最初階段而不是“木已成舟”階段，就必須準確地，而不是大約地搞清電子設備的環(huán)境平臺，暫且稱為“吃透源頭”。
環(huán)境試驗方法研究尋求最可靠的PFL4517-222ME試驗設備，最合理的技術途徑，最恰當?shù)脑囼灲Y論評價體系，來實現(xiàn)環(huán)境標準規(guī)定的試驗目的（詳見第6章）。
環(huán)境試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備對環(huán)境的適應性。為設備投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可靠性試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備的可靠性，為設備能否投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)�？梢�，環(huán)境試驗的目的不同，其環(huán)境平臺也不相同。高水平的環(huán)境試驗設備和檢測系統(tǒng)是確保準確地再現(xiàn)環(huán)境平臺中各類環(huán)境條件的基本手段。
在單項環(huán)境試驗時，主要考核單項參數(shù)對電子設備影響的程度。單項環(huán)境試驗項目一般有20多項，且試驗時間比較短，除霉菌試驗（28天）、濕熱試驗(-240h)外，一般都不超過lOOh�？煽啃栽囼炛�，試驗時間長，而且嚴格要求進稈綜合模擬，一般應考慮濕度、振動和溫度3個對可靠性起決定性作用的因素進行綜合試驗。
另外，環(huán)境試驗和可靠性試驗選用的環(huán)境嚴酷等級（應力）基本準則也完全不同。在環(huán)境試驗中，基本上采用極值準則，即采用設備儲存、運輸和工作中遇到的最極端環(huán)境試驗條件，也即設備在極端環(huán)境條件下不破壞或能正常工作。因此，環(huán)境試驗時是不允許出現(xiàn)故障的，一旦出現(xiàn)故障，則認為設備的試驗未通過并應立即停止；必須在采取相應措施消除故障后才能重新進行試驗。
而可靠性試驗則更強調(diào)模擬設備的真實使用環(huán)境，在可靠性試驗時，只有一小部分試驗條件的嚴酷等級達到最嚴酷的環(huán)境條件嚴酷等級，且其試驗時間與實際暴露時間相對應。可靠性試驗是一種用統(tǒng)計概率表示的試驗結果，試驗中允許選用環(huán)境素的數(shù)目，并允許出現(xiàn)一定數(shù)量的故障，出現(xiàn)故障后進行修復并記錄失效情況（關聯(lián)失效與非關聯(lián)失效）、維修時間及計算平均無故障時間等。
環(huán)境試驗可以看做可靠性試驗的早期部分，在環(huán)境試驗中發(fā)現(xiàn)和解決問題，有助于克服和消除設備的薄弱環(huán)節(jié)，可以說，環(huán)境試驗是可靠性試驗的基礎和前提條件。在電子設備研制的方案論證最初階段而不是“木已成舟”階段，就必須準確地，而不是大約地搞清電子設備的環(huán)境平臺，暫且稱為“吃透源頭”。
環(huán)境試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備對環(huán)境的適應性。為設備投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)。可靠性試驗的目的是為了提高、鑒定和證實設備的可靠性，為設備能否投產(chǎn)和驗收提供依據(jù)�？梢�，環(huán)境試驗的目的不同，其環(huán)境平臺也不相同。高水平的環(huán)境試驗設備和檢測系統(tǒng)是確保準確地再現(xiàn)環(huán)境平臺中各類環(huán)境條件的基本手段。
在單項環(huán)境試驗時，主要考核單項參數(shù)對電子設備影響的程度。單項環(huán)境試驗項目一般有20多項，且試驗時間比較短，除霉菌試驗（28天）、濕熱試驗(-240h)外，一般都不超過lOOh�？煽啃栽囼炛�，試驗時間長，而且嚴格要求進稈綜合模擬，一般應考慮濕度、振動和溫度3個對可靠性起決定性作用的因素進行綜合試驗。
另外，環(huán)境試驗和可靠性試驗選用的環(huán)境嚴酷等級（應力）基本準則也完全不同。在環(huán)境試驗中，基本上采用極值準則，即采用設備儲存、運輸和工作中遇到的最極端環(huán)境試驗條件，也即設備在極端環(huán)境條件下不破壞或能正常工作。因此，環(huán)境試驗時是不允許出現(xiàn)故障的，一旦出現(xiàn)故障，則認為設備的試驗未通過并應立即停止；必須在采取相應措施消除故障后才能重新進行試驗。
而可靠性試驗則更強調(diào)模擬設備的真實使用環(huán)境，在可靠性試驗時，只有一小部分試驗條件的嚴酷等級達到最嚴酷的環(huán)境條件嚴酷等級，且其試驗時間與實際暴露時間相對應。可靠性試驗是一種用統(tǒng)計概率表示的試驗結果，試驗中允許選用環(huán)境素的數(shù)目，并允許出現(xiàn)一定數(shù)量的故障，出現(xiàn)故障后進行修復并記錄失效情況（關聯(lián)失效與非關聯(lián)失效）、維修時間及計算平均無故障時間等。
環(huán)境試驗可以看做可靠性試驗的早期部分，在環(huán)境試驗中發(fā)現(xiàn)和解決問題，有助于克服和消除設備的薄弱環(huán)節(jié)，可以說，環(huán)境試驗是可靠性試驗的基礎和前提條件。在電子設備研制的方案論證最初階段而不是“木已成舟”階段，就必須準確地，而不是大約地搞清電子設備的環(huán)境平臺，暫且稱為“吃透源頭”。
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