最后振動響應(yīng)檢查
發(fā)布時(shí)間:2012/10/27 20:11:55 訪問次數(shù):1376
最后振動響應(yīng)檢查的目的主要是TLV5616IDR為了進(jìn)一步得到樣品在試驗(yàn)前后的性能變化情況，對確定樣品試驗(yàn)后的疲勞特性和潛在損傷特別育用。它應(yīng)該用與初始響應(yīng)檢查完全相同的方式、振動量值、掃頻速率進(jìn)行。另外，掃頻的方向不同，掃出的危險(xiǎn)頻率也有所不同，原因是上掃和下掃在同一危險(xiǎn)頻率上停留的時(shí)間不同，造成累積循環(huán)次數(shù)不同，而導(dǎo)致向上掃與向下掃得出的危險(xiǎn)頻率值會有所不同。所以具體比較時(shí)只能將相同掃頻方向上的危險(xiǎn)頻率值進(jìn)行比較，看其是否發(fā)生了變化，否則就很難判斷共振頻率是否真的發(fā)生了變化，以及確定產(chǎn)品是否適用于預(yù)定的環(huán)境。同一產(chǎn)品用正弦掃頻或隨機(jī)振動進(jìn)行響應(yīng)檢查時(shí)，其危險(xiǎn)頻率也不完全相同。通常，正弦法測得的共振頻率值低于隨機(jī)法測得的量值。
對試驗(yàn)設(shè)備的要求
任何一個(gè)試驗(yàn)室，要使正弦振動試驗(yàn)符合要求，首先應(yīng)使振動試驗(yàn)系統(tǒng)符合要求，而且這種要求與下面介紹的振動試驗(yàn)一樣，不是指振動試驗(yàn)系統(tǒng)技術(shù)條件中的技術(shù)指標(biāo)，而是指試驗(yàn)臺裝上樣品（含夾具）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在固定點(diǎn)、檢測點(diǎn)和控制點(diǎn)上的要求。
樣品固定點(diǎn)應(yīng)基本同相位并沿平行直線運(yùn)動
同相位是指各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間沒有相位差。所謂平行直線運(yùn)動，是指各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡應(yīng)為一直線（橫向?yàn)榱悖⑶乙嗷テ叫�。�?shí)際上，振動臺裝上樣品（包括夾具）后，由于樣品（包括夾具）對臺體的影晌，往往會造成各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間相位不同，同時(shí)也會造成各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡不是一條直線（如橢圓）和不平行。這在某些情況下，就會直接影響到試驗(yàn)結(jié)果的精度和再現(xiàn)性／不確定度。所以要求各固定點(diǎn)要基本同相并沿平行直線運(yùn)動。
對試驗(yàn)設(shè)備的要求
任何一個(gè)試驗(yàn)室，要使正弦振動試驗(yàn)符合要求，首先應(yīng)使振動試驗(yàn)系統(tǒng)符合要求，而且這種要求與下面介紹的振動試驗(yàn)一樣，不是指振動試驗(yàn)系統(tǒng)技術(shù)條件中的技術(shù)指標(biāo)，而是指試驗(yàn)臺裝上樣品（含夾具）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在固定點(diǎn)、檢測點(diǎn)和控制點(diǎn)上的要求。
樣品固定點(diǎn)應(yīng)基本同相位并沿平行直線運(yùn)動
同相位是指各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間沒有相位差。所謂平行直線運(yùn)動，是指各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡應(yīng)為一直線（橫向?yàn)榱悖⑶乙嗷テ叫�。�?shí)際上，振動臺裝上樣品（包括夾具）后，由于樣品（包括夾具）對臺體的影晌，往往會造成各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間相位不同，同時(shí)也會造成各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡不是一條直線（如橢圓）和不平行。這在某些情況下，就會直接影響到試驗(yàn)結(jié)果的精度和再現(xiàn)性／不確定度。所以要求各固定點(diǎn)要基本同相并沿平行直線運(yùn)動。
最后振動響應(yīng)檢查的目的主要是TLV5616IDR為了進(jìn)一步得到樣品在試驗(yàn)前后的性能變化情況，對確定樣品試驗(yàn)后的疲勞特性和潛在損傷特別育用。它應(yīng)該用與初始響應(yīng)檢查完全相同的方式、振動量值、掃頻速率進(jìn)行。另外，掃頻的方向不同，掃出的危險(xiǎn)頻率也有所不同，原因是上掃和下掃在同一危險(xiǎn)頻率上停留的時(shí)間不同，造成累積循環(huán)次數(shù)不同，而導(dǎo)致向上掃與向下掃得出的危險(xiǎn)頻率值會有所不同。所以具體比較時(shí)只能將相同掃頻方向上的危險(xiǎn)頻率值進(jìn)行比較，看其是否發(fā)生了變化，否則就很難判斷共振頻率是否真的發(fā)生了變化，以及確定產(chǎn)品是否適用于預(yù)定的環(huán)境。同一產(chǎn)品用正弦掃頻或隨機(jī)振動進(jìn)行響應(yīng)檢查時(shí)，其危險(xiǎn)頻率也不完全相同。通常，正弦法測得的共振頻率值低于隨機(jī)法測得的量值。
對試驗(yàn)設(shè)備的要求
任何一個(gè)試驗(yàn)室，要使正弦振動試驗(yàn)符合要求，首先應(yīng)使振動試驗(yàn)系統(tǒng)符合要求，而且這種要求與下面介紹的振動試驗(yàn)一樣，不是指振動試驗(yàn)系統(tǒng)技術(shù)條件中的技術(shù)指標(biāo)，而是指試驗(yàn)臺裝上樣品（含夾具）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在固定點(diǎn)、檢測點(diǎn)和控制點(diǎn)上的要求。
樣品固定點(diǎn)應(yīng)基本同相位并沿平行直線運(yùn)動
同相位是指各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間沒有相位差。所謂平行直線運(yùn)動，是指各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡應(yīng)為一直線（橫向?yàn)榱悖⑶乙嗷テ叫�。�?shí)際上，振動臺裝上樣品（包括夾具）后，由于樣品（包括夾具）對臺體的影晌，往往會造成各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間相位不同，同時(shí)也會造成各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡不是一條直線（如橢圓）和不平行。這在某些情況下，就會直接影響到試驗(yàn)結(jié)果的精度和再現(xiàn)性／不確定度。所以要求各固定點(diǎn)要基本同相并沿平行直線運(yùn)動。
對試驗(yàn)設(shè)備的要求
任何一個(gè)試驗(yàn)室，要使正弦振動試驗(yàn)符合要求，首先應(yīng)使振動試驗(yàn)系統(tǒng)符合要求，而且這種要求與下面介紹的振動試驗(yàn)一樣，不是指振動試驗(yàn)系統(tǒng)技術(shù)條件中的技術(shù)指標(biāo)，而是指試驗(yàn)臺裝上樣品（含夾具）進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，在固定點(diǎn)、檢測點(diǎn)和控制點(diǎn)上的要求。
樣品固定點(diǎn)應(yīng)基本同相位并沿平行直線運(yùn)動
同相位是指各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間沒有相位差。所謂平行直線運(yùn)動，是指各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡應(yīng)為一直線（橫向?yàn)榱悖⑶乙嗷テ叫�。�?shí)際上，振動臺裝上樣品（包括夾具）后，由于樣品（包括夾具）對臺體的影晌，往往會造成各固定點(diǎn)所產(chǎn)生的正弦振動波形之間相位不同，同時(shí)也會造成各固定點(diǎn)的運(yùn)動軌跡不是一條直線（如橢圓）和不平行。這在某些情況下，就會直接影響到試驗(yàn)結(jié)果的精度和再現(xiàn)性／不確定度。所以要求各固定點(diǎn)要基本同相并沿平行直線運(yùn)動。
上一篇：注意響應(yīng)的差異
上一篇：橫向運(yùn)動
相關(guān)技術(shù)資料- 10-27最后振動響應(yīng)檢查
熱門點(diǎn)擊
- Sn-Bi-Pb存在低熔點(diǎn)相
- 靜電敏感器件及其分類
- 表面張力與潤濕力
- 烙鐵頭鍍層厚度的影響
- SMC/SMD焊盤設(shè)計(jì)
- PLCC為J引腳
- 聚酰亞胺玻璃纖維板
- 溫度變化速率
- 輕量級強(qiáng)碰撞沖擊試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)
- 非線性減振器的固有頻率
推薦技術(shù)資料
- 單片機(jī)版光立方的制作
- N視頻: http://v.youku.comN_sh... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
