產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、發(fā)射和使用期間，可能W25Q80AVAIZ會(huì)經(jīng)常受到短持續(xù)時(shí)間的隨機(jī)形式的動(dòng)態(tài)應(yīng)力作用，如地震、爆炸，以及在運(yùn)載工具上使用或通過(guò)運(yùn)輸工具運(yùn)輸時(shí)產(chǎn)品產(chǎn)生這些應(yīng)力，其特性是在沒(méi)有使樣品的振動(dòng)響應(yīng)達(dá)到穩(wěn)態(tài)條件時(shí)，即已消失，屬非平穩(wěn)隨機(jī)振動(dòng)范疇。
    研究這種瞬態(tài)振動(dòng)產(chǎn)生的原因、對(duì)產(chǎn)品的影響機(jī)理及試驗(yàn)室的模擬技術(shù)，進(jìn)而分析對(duì)電子產(chǎn)品的影響，以提高電子產(chǎn)品抗御這種非穩(wěn)態(tài)振動(dòng)的能力，應(yīng)作為我們今后開(kāi)展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備和環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)研究的任務(wù)之一。
    與其他方法相比，這種方法避免了過(guò)試驗(yàn)的傾向。這是因?yàn)樵摲椒鼙容^真實(shí)地重現(xiàn)產(chǎn)品實(shí)際所經(jīng)受到的響應(yīng)，對(duì)由于采用太保守的試驗(yàn)方法（這是當(dāng)前在制定和確定經(jīng)典試驗(yàn)方法的環(huán)境試驗(yàn)條件時(shí)普遍存在的）而產(chǎn)生過(guò)應(yīng)力或疲勞的可能性將大大減小。
    瞬態(tài)時(shí)間歷程的描述
    典型瞬態(tài)振動(dòng)時(shí)間歷程的波形如圖6-49所示。

          
    對(duì)運(yùn)載工具進(jìn)行過(guò)現(xiàn)場(chǎng)振動(dòng)實(shí)測(cè)的科技人員都知道，在實(shí)測(cè)到的時(shí)間歷程信號(hào)中，往往有一定比例的類似上述波形的時(shí)間歷程信號(hào)。由于技術(shù)上的種種困難，目前對(duì)現(xiàn)場(chǎng)振動(dòng)實(shí)測(cè)信號(hào)的處理僅限于平穩(wěn)隨機(jī)振動(dòng)，這類信號(hào)在隨機(jī)信號(hào)的平穩(wěn)性檢驗(yàn)中都是被剔除的。然而在實(shí)際環(huán)境中是存在的，例如，火箭發(fā)射、殲擊機(jī)做各種特技（戰(zhàn)斗）動(dòng)作和挖掘機(jī)采石等過(guò)程中都會(huì)出現(xiàn)如圖6-49所示的振動(dòng)時(shí)間歷程。