圖2-28所示電路是基本的AG8 LR626積分運(yùn)算電路，電路由運(yùn)算放大器lC，電阻R與電容C組成。當(dāng)輸入一正階躍電壓Ui時(shí)，電容C就以電流為f_Ui，R進(jìn)行充電。那么，運(yùn)算放大器IC輸出端的輸出電壓的計(jì)算。
    圖2-27單元微分電路    圖2-28積分運(yùn)算電路
    而實(shí)際上在輸入電壓Ui作用下，電容起初在充電曲線的線性段工作，即近似于恒流方式充電，輸出電壓zf。與時(shí)間f成近似線性關(guān)系。   
    用上述積分器進(jìn)行計(jì)算時(shí)，由于集成運(yùn)放輸入失調(diào)電壓、輸入偏置電流與失調(diào)電流的影響，通常會(huì)出現(xiàn)積分誤差。例如，當(dāng)Ui=0時(shí)，uo≠0，并且作緩慢變化，形成輸出誤差。針對(duì)這種現(xiàn)象，除選用上述參數(shù)小和低漂移的集成運(yùn)放外，對(duì)積分電的選用也很重要，應(yīng)選用漏電流小、絕緣性能好、溫度系數(shù)小的電容器。如薄膜電容器、聚苯乙烯電容器等，均可有效地減小上述誤差。
    電容器的檢測(cè)
    在電子電路中，電容器是容易產(chǎn)生故障的元器件。大部分電容器在電路結(jié)構(gòu)中所處的位置顯赫，起著比較重要的作用。如果電容器發(fā)生故障，多數(shù)情況會(huì)使整個(gè)電路癱瘓。所以對(duì)電容器的檢測(cè)至關(guān)重要。由于電容器在結(jié)構(gòu)上要比電阻器復(fù)雜，并且損壞方式與損壞程度也跟電阻器不同，故對(duì)電容器的檢測(cè)相對(duì)要復(fù)雜一些，有時(shí)還會(huì)出現(xiàn)一定的難度。
    就故障類型而言，對(duì)于電阻器，除了極少變值故障偶然發(fā)生之外，其故障只有斷裂而開路。但電容器就沒有那么簡單，其故障有多種，比如擊穿而短路、不同程度的漏電、軟擊穿、變值、開路故障等。

           
    電路中電容器損壞的幾率，排在首位的是擊穿，其次便是漏電而引起元件溫升增加，最后導(dǎo)致燒壞。若漏電嚴(yán)重，電容器本身的有功功率增加，熱損耗增加，元件溫升可超過80℃，外封裝會(huì)有被燒焦的可能，并有用手有不可觸摸之感。另則當(dāng)電容器被擊穿后通常都會(huì)出現(xiàn)裂縫或不大明顯的裂紋。這些明顯的故障一般通過外觀檢測(cè)均可輕而易舉她發(fā)現(xiàn)與排除。下面簡單介紹一下測(cè)量電容器的具體方法。