要在兩個極板之間保持有5pm的空氣間隙，實(shí)際上并不可行。因此，需要使用隔離材料。這種隔離介質(zhì)，從而使得在同樣容量的要求下，電容器的尺寸可以進(jìn)一步減小。
    使用介質(zhì)后，我們獲得了容量增大的好處，但在電容器其他參數(shù)方面付出了代價。為此，我們作深入研究。介質(zhì)有3個重要的屬性：相對介電常數(shù)Er、介電強(qiáng)度（dielectric strength）和介電損耗(dielectric loss)。
    前面已講到，相對介電常數(shù)Er是插入介質(zhì)后，AT24C32電容器容量相應(yīng)增大的系數(shù)。
    介電強(qiáng)度是表述最大電場強(qiáng)度的參數(shù)，按每米給出電壓的伏數(shù)，指絕緣材料（介質(zhì)）在擊穿和導(dǎo)通之前所能承受的最高電壓。這是一個限制，決定了電容器的額定電壓。
    介電損耗，則表明介質(zhì)在低于擊穿電壓的情況下，與理想絕緣材料的接近程度。給出這個損耗的其中一個方法是，在額定電壓下測量電容的漏電電流（pA值）。這種方法常用于鋁電解電容和鉭電容。薄膜電容通常有小得多的損耗，因此，可能會出絕緣電阻(insulation resistance)或漏電電阻(leakage resistance)的參數(shù)。在C上和DC上，介電損耗可能有差別，因此，測量或給出tana（譯注：即損耗角正切值，有時用“D”或“d”表示，也稱為損耗因數(shù)、損耗因子）這項(xiàng)參數(shù)會更為有用。這項(xiàng)參數(shù)是指在特定的頻率下，電容器總電阻與電抗性成分之比（譯注：通常近似有tana=——）。請注意，對于tana來說，并沒有將并聯(lián)的介質(zhì)漏電電阻與其他串聯(lián)的電阻區(qū)分開來，都一并計算在內(nèi)，串聯(lián)的電阻包括引線電阻和極板電阻。
    引線電阻和極板電阻可歸并到一個電阻項(xiàng)中，印我們所稱的等效串聯(lián)電阻(effective senes resistance，簡稱ESR)。對于一些電容，比如電源用或陰極旁路用的大容量電解電容，ESR相當(dāng)重要，因?yàn)樗赡軙蔀殡娙菘傋杩沟娘@著部分。在電源電路中，有較大的電流流過儲能電容，會引起儲能電容內(nèi)部構(gòu)造的自發(fā)熱。基于這個原因，電容還有一個與ESR密切相關(guān)的參數(shù)規(guī)格，就是最大紋波電流( maximum ripple current，也稱為最大脈動電流、或最大漣波電流——譯注)。
    引線有串聯(lián)電感，如果制造極板不注意電感問題，極板也會有電感�，F(xiàn)在，我們可以為現(xiàn)實(shí)中的電容，畫出簡化的等效電路，如圖4.3所示。

            
    通過上圖可立即看到，這是一個諧振電路。對于電解電容來說，制造商通常會在規(guī)格書中給出自諧振頻率（self-resonant frequency），以后我們再講這一諧振問題。