一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?/span>

     (1)研究負(fù)反饋對(duì)放大E29AG電路性能的影響。

     (2)掌握使用Multisim軟件對(duì)負(fù)反饋電路性能的測(cè)試方法。

     二、預(yù)習(xí)要求

    (1)閱讀關(guān)于Multisim 10軟件的介紹。

    (2)閱讀相關(guān)教材有關(guān)負(fù)反饋的內(nèi)容。

     三、實(shí)驗(yàn)線路及實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

     在實(shí)驗(yàn)放大電路中，為了改善放大電路的性能，在放大電路中引入負(fù)反饋是一種常用的重要手段。可以說，幾乎沒有不采用負(fù)反饋的電子線路。

    放大電路的開環(huán)性能仿真實(shí)驗(yàn)

    在Multisim 10的實(shí)驗(yàn)電路工作區(qū)搭建如圖5.8.1所示的兩級(jí)電壓放大電路并存盤。斷開負(fù)反饋設(shè)置開關(guān)Ji、負(fù)載連接開關(guān)J2，使放大實(shí)驗(yàn)電路工作在無負(fù)反饋（開環(huán)）、無負(fù)載（開路）的電壓放大狀態(tài)。啟動(dòng)仿真開關(guān)，進(jìn)行仿真測(cè)量，得到輸入、輸出電壓的仿真測(cè)量，如圖5.8.2所示。把測(cè)得的信號(hào)源、輸入信號(hào)和輸出信號(hào)的峰值。分別填人表5.8.1中。

    圖5.8.1  電壓放大實(shí)驗(yàn)電路開環(huán)性能的仿真測(cè)量（不接負(fù)載）