每個像素點對應(yīng)的P、S分量的灰度值不同，但KDT-6315A旋光角度值大致相等，這與在激勵線圈內(nèi)部的磁場分布原理一致，說明測量方法可行。再取某一像素對應(yīng)位置在不同電壓下的磁致旋光角度列表，如表12 -5所示。

  表12 -5  某一像素對應(yīng)位置在不同電壓下的磁致旋光角度

   由表12 -5可知，電壓與旋光角度線性良好，電壓與磁場大小成正比，則得到旋光角度分布即可得到磁場的分布，這證明了本文方法是可以應(yīng)用于磁光成像測量中的。~12.4.7結(jié)論

   介紹一種基于偏振分束成像的旋光角度分布測量系統(tǒng)設(shè)計問題，根據(jù)推導(dǎo)的測量模型，設(shè)計和構(gòu)建了測量系統(tǒng)，并以標準1/2波片為研究對象，進行驗證實驗。實驗結(jié)果表明，與傳統(tǒng)的偏振正交消光法相比，該方法能有效消除光強度波動的影響，誤差降低約3倍，且穩(wěn)定性較好。將此方法應(yīng)用于磁光成像中能精確測量磁場影響的旋光角度變化量，從而可以根據(jù)旋光角度變化量反向計算出磁場大小�；谄穹质拇殴獬上窦夹g(shù)將在無損檢測領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景和校大的應(yīng)用價值。