結(jié)構(gòu)上措施
發(fā)布時(shí)間:2015/5/23 20:45:25 訪問次數(shù):673
首先從設(shè)計(jì)及工藝上提高導(dǎo)軌的運(yùn)動(dòng)精度,減小因?qū)к夁\(yùn)動(dòng)不直線性帶來的傾角值。F65545B2從結(jié)構(gòu)布置上,盡量使讀數(shù)線(線紋尺或光柵尺、激光等)和被測(cè)參數(shù)的測(cè)量線靠得近些,減小兩者之間相隔距離。
愛彭斯坦(EPstein)原理。愛彭斯坦原理是誤差補(bǔ)償原理,它是利用各種機(jī)構(gòu),使可能產(chǎn)生的誤差相互抵消或削弱,或者故意引進(jìn)新的誤差,以減少某些誤差的影響。
圖2 -25為測(cè)長(zhǎng)機(jī)機(jī)構(gòu)示意圖。被測(cè)件l與裝在儀器床身5上的分米分劃板7及毫米刻尺6不在一條直線上。分米刻線被尾架8上的棱鏡、物鏡成像在無窮遠(yuǎn),通過頭架4內(nèi)的物鏡和棱鏡成像在毫米刻尺6上。由讀數(shù)顯微鏡3讀得分米、毫米和1/10毫米數(shù),然后光學(xué)計(jì)2再顯示出微米數(shù)。
首先從設(shè)計(jì)及工藝上提高導(dǎo)軌的運(yùn)動(dòng)精度,減小因?qū)к夁\(yùn)動(dòng)不直線性帶來的傾角值。F65545B2從結(jié)構(gòu)布置上,盡量使讀數(shù)線(線紋尺或光柵尺、激光等)和被測(cè)參數(shù)的測(cè)量線靠得近些,減小兩者之間相隔距離。
愛彭斯坦(EPstein)原理。愛彭斯坦原理是誤差補(bǔ)償原理,它是利用各種機(jī)構(gòu),使可能產(chǎn)生的誤差相互抵消或削弱,或者故意引進(jìn)新的誤差,以減少某些誤差的影響。
圖2 -25為測(cè)長(zhǎng)機(jī)機(jī)構(gòu)示意圖。被測(cè)件l與裝在儀器床身5上的分米分劃板7及毫米刻尺6不在一條直線上。分米刻線被尾架8上的棱鏡、物鏡成像在無窮遠(yuǎn),通過頭架4內(nèi)的物鏡和棱鏡成像在毫米刻尺6上。由讀數(shù)顯微鏡3讀得分米、毫米和1/10毫米數(shù),然后光學(xué)計(jì)2再顯示出微米數(shù)。
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