由前述定義可以看出，探測(cè)DAC7513E/250G4器的性能越好NEP的值越小。為了合乎習(xí)慣取NEP的倒數(shù)定義為探測(cè)度D( Detectivity)，其單位為W。1，即

   D= 1/NEP    (5-5)

   當(dāng)用探測(cè)度來(lái)表征器件時(shí)，必須說(shuō)明人射輻射的波長(zhǎng)、探測(cè)器的工作溫度、斬波器的頻率、器件上所加的偏置電流、探測(cè)器的面積、放大器的帶寬。

   輻射源通常是在標(biāo)準(zhǔn)溫度(通常是500K)下的黑體。探測(cè)器總是選在容易達(dá)到的溫度工作。例如通常的環(huán)境溫度為300K，固體C02的溫度為195K，液氮的測(cè)試為77K等。調(diào)制頻率選得足夠低以使探測(cè)度不受器件時(shí)間常數(shù)的限制。

    探測(cè)度對(duì)于比較不同的器件來(lái)說(shuō)不是一個(gè)理想的參量。因?yàn)樘綔y(cè)度和敏感區(qū)的面積和帶寬Af的平方根成反比，所以引入了比探測(cè)度(Specific Detectivity)來(lái)克服這個(gè)缺點(diǎn)。比探測(cè)度的表達(dá)式為

量噪聲的帶寬取為1Hz的條件下測(cè)量的。

   比探測(cè)度可以比較不同尺寸的探測(cè)器。探測(cè)器的噪聲一般來(lái)說(shuō)和它的敏感部分的面積的平方根成比例，這時(shí)候用比探測(cè)度來(lái)作比較很合適。但是有些探測(cè)器的探測(cè)度不與AⅣz成比例，如高萊管、熱輻射計(jì)、金屬一氧化物一金屬結(jié)器件等。對(duì)于這類器件采用NEP或D作比較。