為了得到良好的篩選效果，必須了解電子元器件產(chǎn)品的失效模式和機(jī)理，CY7C65630-56LFXA以便選定一個(gè)有效的篩選方法，制定準(zhǔn)確的篩選條件和失效判據(jù)。為此，必須對各種電子元器件進(jìn)行大量的可靠性試驗(yàn)和篩選摸底試驗(yàn)，掌握產(chǎn)品的失效分布、失效模式和機(jī)理，了解篩選項(xiàng)目，確立應(yīng)力與時(shí)間的關(guān)系。這些都是指定正確的篩選條件的前提。若篩選條件選擇不當(dāng)，可能使篩選強(qiáng)度不夠，導(dǎo)致不合格產(chǎn)品漏網(wǎng)，達(dá)不到原定可靠性要求；或者篩選過嚴(yán)，剔除率太高，造成浪費(fèi)；或者遺漏掉一些篩選項(xiàng)目，造成某些失效模式控制不住，達(dá)不到篩選的目的。

   這里以集成電路為例，分析失效模式與篩選試驗(yàn)方法的關(guān)系。在制造方面，經(jīng)過幾十道、上百道工序，不可避免地產(chǎn)生一些工藝缺陷和工藝誤差而引起失效。集成電路的主要失效模式與表面、界面缺陷（離子沾污等）、氧化膜缺陷（針孔等）、擴(kuò)散缺陷、金屬互連線缺陷、輸入回路缺陷等有密切關(guān)系。根據(jù)這些失效模式，表3. 13提出了一些相應(yīng)的篩選方法。

   表3.13失效模式與相應(yīng)的篩選試驗(yàn)方法