篩選試驗(yàn)方法及其比較
發(fā)布時(shí)間:2015/6/20 14:56:23 訪問(wèn)次數(shù):627
在表3.9介紹的幾種篩選方法中，公認(rèn)為CY8C5267LTI-LP089最有效的方法是老化篩選。一般認(rèn)為，選用靜態(tài)老化可以排除表面缺陷引起的漏電流增大、運(yùn)算速度的劣化、閾值電壓的變動(dòng)等因素。而動(dòng)態(tài)老化可以剔除氧化膜引起的存儲(chǔ)器單元缺陷、接觸缺陷及擴(kuò)散缺陷等因素。表3. 14比較了施加不同應(yīng)力、采用不同方法的篩選效果。
表3 14篩選試驗(yàn)方法及其比較
在表3.9介紹的幾種篩選方法中，公認(rèn)為CY8C5267LTI-LP089最有效的方法是老化篩選。一般認(rèn)為，選用靜態(tài)老化可以排除表面缺陷引起的漏電流增大、運(yùn)算速度的劣化、閾值電壓的變動(dòng)等因素。而動(dòng)態(tài)老化可以剔除氧化膜引起的存儲(chǔ)器單元缺陷、接觸缺陷及擴(kuò)散缺陷等因素。表3. 14比較了施加不同應(yīng)力、采用不同方法的篩選效果。
表3 14篩選試驗(yàn)方法及其比較
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