RJ2型精密金屬膜電阻的可靠性篩選

   根據(jù)篩選項目確定的原則，CYS5N60首先要分析失效形式和失效機理。因為金屬膜電阻器以某種型號的合全粉為原材料，通過真空蒸發(fā)的方式，將其沉淀在絕緣瓷體上形成金屬導電膜層，由于工藝等原因，不可避免地出現(xiàn)膜層厚度不均勻，有疵點，以及刻槽區(qū)有導電沾污物，膜層與帽蓋接觸不良等毛病，導致產品出現(xiàn)早期失效，針對上述失效模式，選擇相應的篩選項目。

   電流噪聲篩選

   因為金屬膜的微觀結構是由不同尺寸的晶粒通過邊界連接起來的多晶體，如果金屬膜結構均勻一致，則其電流噪聲很小，而且在數(shù)值上也大致相等。但是當金屬膜存在疵點或缺陷，或膜層與帽蓋接觸不良時，這些缺陷部位的質量變差，而使電流噪聲變大。因此，通過測試電流噪聲，判別異常產品，作為剔除存在潛在缺陷的早期失效產品或可靠性低的產品的一種方法。