Zn0壓敏電阻器在高能沖擊下， HEF4021BT易產(chǎn)生致命性失效。失效形式通常有針孑L擊穿和“擊裂”兩種。針孑L擊穿是一種熱（電）擊穿，它是由能級損耗引起的。電阻各部位電、物理牲能的不一致性是造成局部擊穿或其他物理損傷的根本原因。而造成不均勻性的原因很多，除原材料不適當(dāng)外，制造工藝起著決定性作用。制造工藝對晶粒的形狀、大小、分布和氣孔的多少、應(yīng)力大小都帶來影響。燒成溫度和方法則是造成制品不均勻性的關(guān)鍵工序。

   晶粒間存在“顯微壓敏結(jié)”，這相當(dāng)于一個(gè)電容器。在外電場作用下，由于傳導(dǎo)損耗而產(chǎn)生介電常數(shù)損耗。當(dāng)不均勻性大時(shí)，局部損耗增大，由損耗所產(chǎn)生的熱量將大于向周圍傳遞的熱量，使局部溫度迅速上升，從而導(dǎo)致局部熱損壞，產(chǎn)生針孔擊穿。

   擊裂是一種應(yīng)力誘導(dǎo)失效。當(dāng)材料內(nèi)部存在異常的大顆粒時(shí)，在大顆粒與小顆粒之間由于電致形變不同而產(chǎn)生應(yīng)力。當(dāng)這種應(yīng)力或材料中殘存的應(yīng)力較大時(shí)，在應(yīng)力集中處可能產(chǎn)生“微裂縫”。在外電場作用下，微裂縫和氣孔尖端處產(chǎn)生局部放電，從而又產(chǎn)生電腐蝕、熱腐蝕、化學(xué)腐蝕，使裂縫不斷擴(kuò)大，最終導(dǎo)致材料開裂。