在進(jìn)行所有測(cè)量時(shí)都必須確保無(wú)寄生振蕩出現(xiàn)。

   應(yīng)防止所施加的電壓、電流或DS12C887+功率超過(guò)被測(cè)器件規(guī)定的極限值，即使是瞬間也不行。測(cè)量擊穿電壓時(shí)，應(yīng)采取限流措施，標(biāo)準(zhǔn)擊穿電流不會(huì)過(guò)大，同時(shí)測(cè)量時(shí)間應(yīng)盡可能縮短。測(cè)量功率器件或裝有功率器件的電路板時(shí)，使用的電源應(yīng)該帶有限流裝置，使限流值接近最高輸出時(shí)的峰值電流，以防止測(cè)量時(shí)因端子間短路和負(fù)載短路等意外原因造成器件損壞。

   如果熱效應(yīng)影響到測(cè)量結(jié)果，那么測(cè)量時(shí)間就應(yīng)盡量縮短。在測(cè)量中產(chǎn)生高功耗時(shí)（如測(cè)量功率晶體管的大電流增益），為防止過(guò)熱，必須采用脈沖式或手動(dòng)觸發(fā)方式。

   器件極限參數(shù)的測(cè)試大多帶有破壞性，用戶一般不要測(cè)試，由制造廠予以保證。如果用戶確實(shí)需要測(cè)試，則必須謹(jǐn)慎操作，測(cè)試應(yīng)力應(yīng)逐漸緩慢增加，一旦出現(xiàn)轉(zhuǎn)折點(diǎn)或異常信號(hào)，要立即減少輸入信號(hào)，通常采用示波器或特性圖示儀進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試和監(jiān)視。

   當(dāng)測(cè)量器件的溫度漂移和時(shí)間穩(wěn)定性指標(biāo)時(shí)，所用測(cè)量?jī)x器也應(yīng)具有更高的時(shí)間與溫度穩(wěn)定性。

   用于測(cè)量高輸入阻抗器件（如CMOS電路）的儀器輸入阻抗和測(cè)試夾具的絕緣電阻，必須比被測(cè)器件的輸入阻抗高一個(gè)數(shù)量級(jí)以上。

   利用高溫烘箱做高溫洌試時(shí)，烘箱外殼要接地良好。被測(cè)器件與加熱電阻絲或遠(yuǎn)紅外發(fā)射體之間用接地的鐵板隔開(kāi)，防止空間靜電場(chǎng)損傷器件。

   低溫測(cè)試時(shí)，應(yīng)注意測(cè)試過(guò)程中器件表面不要出現(xiàn)水汽或凝霜現(xiàn)象。