當測量小功率超高頻晶體管CG36的發(fā)射結(jié)反向擊穿電壓BVEBO時，若所加 DS1302Z+T反向電流ICBO大于ImA，將使其小電流下的電流放大系數(shù)矗FE明顯下降。測量時，持續(xù)時間越長，或者所加ICBO越大，則^FE衰減量越大。在ICBO一lOmA，持續(xù)時間為5s時，^FE將減少50%左右。如果^ FE衰退不嚴重，則衰退后經(jīng)過電功率老化，可能^FE會變大而復原。如CG36，當hFE降低量小于30%時，進行l(wèi)OOmW滿功率電老化48小時后，^FE可基本復原。但這種

器件在以后的長期工作期間，hFE穩(wěn)定性很差。對于淺結(jié)超高頻晶體管，特別容易出現(xiàn)這種矗FE衰退現(xiàn)象。

   習題

   1．對比化學電池和物理電池的優(yōu)缺點。

   2．簡述太陽電池的工作原理。

   3．電子元器件在焊接中應注意的事項有哪些？

   4．從電子市場上結(jié)合實際，討論電子元器件在運輸、儲存等過程中的可靠性措施。