在參數(shù)分析的基礎(chǔ)上還可以進(jìn)行電路測量性能的分析，定量地分析電路特性函數(shù)隨某一個元器件參數(shù)的變化情況，BQ2040對電路的優(yōu)化設(shè)計也有很大的幫助。步驟是：

   (1)在參數(shù)分析結(jié)束后，在Probe窗口下選擇Trace/Performance Analysis命令或者單擊濺按鈕。選擇菜單會出現(xiàn)如圖4.3.20所示的對話框，表示對測量性能分析注釋說明。單擊“確定”按鈕后會在圖4.3.19的基礎(chǔ)上多出一個窗口。

    (2)選擇菜單欄Trace/Add Trace，或者單擊溉圖標(biāo)，然后在“Functions and Macros”和“Simulation Output variables”中選擇使得“Trace Expression”中顯示Max(DB(V(Vout)/V(Q1：b)))，單擊“確定”按鈕后，就可以得到如圖4.3.21所示的結(jié)果。

   另外也可以通過另外一種屏幕引導(dǎo)的方式得到：屏幕提示的操作方式分步驟進(jìn)行電路測量性能分析，4.3.6  溫度分析(Temperature (Sweep》在圖4.3.20中單擊-lzad按鈕，就可以按照得到的結(jié)果與圖4.3.21是一樣的。