對于需要考慮其變化對電路特性影響的那些元器件參數(shù)，單擊該參數(shù)所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格，將彈出掃描類型選擇的下拉菜單，A42MX16-FPL84列出可供選擇的4種掃描類型(見圖6-84)。

   ①Discrete：表示在掃描分析過程中為元器件參數(shù)指定幾個確定數(shù)值；

   ②Linear：表示在掃描分析過程中元器件參數(shù)按線性方式均勻變化；

   ③LogarithmicDec：表示參數(shù)按以10為底數(shù)的對數(shù)關(guān)系變化，即按數(shù)量級關(guān)系變化；

   ④LogarithmicOct：表示參數(shù)按以2為底數(shù)的對數(shù)芙系變化，即按成倍關(guān)系變化。

   圖中顯示的是單擊電阻R3所在行對應(yīng)Sweep Type的單元格并選擇Discrete的情況。 提示：  “選擇掃描類型”這一步也可以與下面關(guān)于“設(shè)置參數(shù)掃描取值”介紹同時進行（參見圖6-85）。