電學(xué)特性測試的目的是最大限度地覆蓋可能存在于r中的所有的失效源。IC電學(xué)特性測試主要包括直流特性測試、交流特性測試、功能測試和工作范圍測試。

   直流特性測試

   在⒑制造、出廠、驗(yàn)收、可靠性VEJ101M1ATR-0806保證的各個階段,直流特性測試用得最為普遍,它是一切測試的基礎(chǔ)。直流特性測試大致可分為輸人、輸出、全電流和功耗的測試。直流輸人特性是在需要測試的輸人端加上一個規(guī)定的電壓,其他的輸人端加一定的電壓或短路、開路,然后測定它的輸人電流。對于直流輸出特性,則是測試它能否滿足規(guī)定的負(fù)載條件,方法是在被測的輸出端加上一定電壓時,測定它的輸出電流。VLSI邏輯電路內(nèi)部門電路很多,輸人的邏輯組合也多,輸人條仵不同,直流輸出特性也會發(fā)生變化,因此輸入條件的確定非常復(fù)雜,需特別注意。