磁珠如何降低開(kāi)關(guān)電源的輻射發(fā)射
發(fā)布時(shí)間:2017/6/21 20:56:36 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):511
案例弱:磁珠如何降低開(kāi)關(guān)電源的輻射發(fā)射
【現(xiàn)象描述】
某控制產(chǎn)品在進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)測(cè)PH967C6試結(jié)果超標(biāo),原始的輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果頻譜圖如圖4,98所示。
此控制產(chǎn)品在確定發(fā)射源之前,就在各外部端口采取了各種濾波措施,結(jié)果并無(wú)明顯作用,即使把所有相關(guān)外部引線(xiàn)全部拿走(僅剩電源線(xiàn)),發(fā)射依然超標(biāo)。另外,在電源端口進(jìn)行濾波等措施時(shí),發(fā)現(xiàn)只是出現(xiàn)頻點(diǎn)的漂移,但是并不能通過(guò)輻射發(fā)射測(cè)試。同時(shí),還直 接影響裝置的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試結(jié)果(傳導(dǎo)的低頻段測(cè)試結(jié)果),如果過(guò)此方法使該產(chǎn)品輻射發(fā)射測(cè)試通過(guò),傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試應(yīng)該重做,并有不能通過(guò)的風(fēng)險(xiǎn)。經(jīng)過(guò)一系列的測(cè)試及頻譜分析,對(duì)于此產(chǎn)品,它的輻射發(fā)射問(wèn)題鎖定在產(chǎn)品內(nèi)部的開(kāi)關(guān)電源部分,同時(shí)也說(shuō)明該產(chǎn)品的開(kāi)關(guān)電源的內(nèi)部電路設(shè)計(jì)也有很多EMC缺陷。
案例弱:磁珠如何降低開(kāi)關(guān)電源的輻射發(fā)射
【現(xiàn)象描述】
某控制產(chǎn)品在進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)測(cè)PH967C6試結(jié)果超標(biāo),原始的輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果頻譜圖如圖4,98所示。
此控制產(chǎn)品在確定發(fā)射源之前,就在各外部端口采取了各種濾波措施,結(jié)果并無(wú)明顯作用,即使把所有相關(guān)外部引線(xiàn)全部拿走(僅剩電源線(xiàn)),發(fā)射依然超標(biāo)。另外,在電源端口進(jìn)行濾波等措施時(shí),發(fā)現(xiàn)只是出現(xiàn)頻點(diǎn)的漂移,但是并不能通過(guò)輻射發(fā)射測(cè)試。同時(shí),還直 接影響裝置的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試結(jié)果(傳導(dǎo)的低頻段測(cè)試結(jié)果),如果過(guò)此方法使該產(chǎn)品輻射發(fā)射測(cè)試通過(guò),傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試應(yīng)該重做,并有不能通過(guò)的風(fēng)險(xiǎn)。經(jīng)過(guò)一系列的測(cè)試及頻譜分析,對(duì)于此產(chǎn)品,它的輻射發(fā)射問(wèn)題鎖定在產(chǎn)品內(nèi)部的開(kāi)關(guān)電源部分,同時(shí)也說(shuō)明該產(chǎn)品的開(kāi)關(guān)電源的內(nèi)部電路設(shè)計(jì)也有很多EMC缺陷。
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