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靜電放電完全與器件相關

發(fā)布時間:2017/10/9 21:55:45 訪問次數:432

   帶電器件模型的損害主要來源是能量從一個帶電器件迅速地釋放。靜電放RT9285BGJ6電完全與器件相關,但器件與地電位面的相對距離,卻能影響實際的失效水平。該模型假定,當帶電器件的導電管腳與具有較低的電位的導體表面接觸時,會發(fā)生迅速放電。帶電器件模型測試標準的準備過程中的一個主要問題,是如何找到適當儀器測量放電過程。信號波形的上升時間經常是少于,O0微微秒。整個過程可能發(fā)生在少于2.0納秒的時間里。雖然時間非常短,放電時電流卻能達到幾十安培的水平。與前面兩個模型不同,CDM模型是設備帶電,然后放電。遵循的標準有EsD DS5.3.1。

   在我國LED行業(yè)中,目前大部分用人體放電模型作為對LED的抗靜電放電性能的測試標準,一般只做500V,1000V,⒛00V的反向放電測試。這主要是囚為當前生產流程和包裝過程中,工人與器件的接觸是靜電放電的主要來源。

   加強生產過程中的靜電防護

   LED芯片耐壓較低,結構脆弱,容易被靜電脈沖擊穿失效,而且靜電引起的LED失效具有隱蔽性,很難通過快速簡便的篩選方法進行剔除,因此在LED相關產品的生產過程中必須要做好靜電防護。主要的措施包括工藝和測試流程控制、設備與用具控制、生產環(huán)境控制等。

   帶電器件模型的損害主要來源是能量從一個帶電器件迅速地釋放。靜電放RT9285BGJ6電完全與器件相關,但器件與地電位面的相對距離,卻能影響實際的失效水平。該模型假定,當帶電器件的導電管腳與具有較低的電位的導體表面接觸時,會發(fā)生迅速放電。帶電器件模型測試標準的準備過程中的一個主要問題,是如何找到適當儀器測量放電過程。信號波形的上升時間經常是少于,O0微微秒。整個過程可能發(fā)生在少于2.0納秒的時間里。雖然時間非常短,放電時電流卻能達到幾十安培的水平。與前面兩個模型不同,CDM模型是設備帶電,然后放電。遵循的標準有EsD DS5.3.1。

   在我國LED行業(yè)中,目前大部分用人體放電模型作為對LED的抗靜電放電性能的測試標準,一般只做500V,1000V,⒛00V的反向放電測試。這主要是囚為當前生產流程和包裝過程中,工人與器件的接觸是靜電放電的主要來源。

   加強生產過程中的靜電防護

   LED芯片耐壓較低,結構脆弱,容易被靜電脈沖擊穿失效,而且靜電引起的LED失效具有隱蔽性,很難通過快速簡便的篩選方法進行剔除,因此在LED相關產品的生產過程中必須要做好靜電防護。主要的措施包括工藝和測試流程控制、設備與用具控制、生產環(huán)境控制等。

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