CMOs晶體管和金屬互連的制造流程
發(fā)布時間:2017/10/14 10:58:01 訪問次數(shù):793
現(xiàn)代CM()s邏輯△藝流程的順序如圖3.3所示,工藝參數(shù)對應(yīng)于90nm節(jié)點。CMOS邏輯超大規(guī)模集成電路的制造通常是在P型硅或絕緣體上硅(SOI)上,直徑為⒛0mm(8″)或300mm(12″)。T藝首先形成淺槽隔離(STI),然后形成Il阱區(qū)域(對于PMOS晶體管)和「阱區(qū)域(對于NMOS晶體管)并分別對阱區(qū)域進行選擇性注人摻雜。 R1EX24128BTAS0G然后為NM(,S和 PMOS晶體管生長柵氧,接下來形成多晶柵層疊。多晶柵層疊圖形化以后形成再氧化,補償和主隔離結(jié)構(gòu),接著完成NMOS和PMOS的LDD和源/漏注入摻雜。在這之后,沉積一層介質(zhì)層,通過圖形化,刻蝕和鎢塞(W plug)填充形成接觸孔。至此,NMOS和PMOS晶體管已經(jīng)形成了,這些工藝步驟通常被稱為前端制程(FEOI')。然后通過單鑲嵌技術(shù)形成第一層銅(M1),其他的互連通過雙鑲嵌技術(shù)實現(xiàn)。后端制程(BE()I')通過重復(fù)雙鑲嵌技術(shù)實現(xiàn)多層互連。
圖3,3中,步驟(a)~步驟(h)用于實現(xiàn)CMOS晶體管,稱為前端制程(FEOI');步驟(i)~步驟(j)用于重復(fù)制造多層互聯(lián),稱為后端制程(BEOL)。最頂層的兩層金屬和鋁層被用于制造無源器件和鍵合焊盤,沒有在這里進行介紹。
現(xiàn)代CM()s邏輯△藝流程的順序如圖3.3所示,工藝參數(shù)對應(yīng)于90nm節(jié)點。CMOS邏輯超大規(guī)模集成電路的制造通常是在P型硅或絕緣體上硅(SOI)上,直徑為⒛0mm(8″)或300mm(12″)。T藝首先形成淺槽隔離(STI),然后形成Il阱區(qū)域(對于PMOS晶體管)和「阱區(qū)域(對于NMOS晶體管)并分別對阱區(qū)域進行選擇性注人摻雜。 R1EX24128BTAS0G然后為NM(,S和 PMOS晶體管生長柵氧,接下來形成多晶柵層疊。多晶柵層疊圖形化以后形成再氧化,補償和主隔離結(jié)構(gòu),接著完成NMOS和PMOS的LDD和源/漏注入摻雜。在這之后,沉積一層介質(zhì)層,通過圖形化,刻蝕和鎢塞(W plug)填充形成接觸孔。至此,NMOS和PMOS晶體管已經(jīng)形成了,這些工藝步驟通常被稱為前端制程(FEOI')。然后通過單鑲嵌技術(shù)形成第一層銅(M1),其他的互連通過雙鑲嵌技術(shù)實現(xiàn)。后端制程(BE()I')通過重復(fù)雙鑲嵌技術(shù)實現(xiàn)多層互連。
圖3,3中,步驟(a)~步驟(h)用于實現(xiàn)CMOS晶體管,稱為前端制程(FEOI');步驟(i)~步驟(j)用于重復(fù)制造多層互聯(lián),稱為后端制程(BEOL)。最頂層的兩層金屬和鋁層被用于制造無源器件和鍵合焊盤,沒有在這里進行介紹。
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