感應(yīng)線圈、補(bǔ)償電容器及其連接銅排有短路點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間:2017/10/19 22:26:23 訪問次數(shù):415
若上述檢查增均正常,則再檢RD9801查逆變晶間管(KK)是否損壞。用萬(wàn)用表R×1擋檢測(cè),如果測(cè)量晶閘管陰極與陽(yáng)極之間的電阻為零,則晶閘管損壞,更換晶閘管。若中頻電源逆變晶閘管損壞一只(兩只),其逆變引前角大于或等于2,直流電流和直流電壓的比值比正常大很多,則應(yīng)重新調(diào)整逆變引前角為1.5。
0C(過流)燈亮。引發(fā)0C(過流)燈亮的故障原因有:感應(yīng)線圈、補(bǔ)償電容器及其連接銅排有短路點(diǎn);逆變晶閘管有兩只(四只)損壞;逆變晶間管特性不好,若0Ⅴ/0C同時(shí)燈亮,檢修時(shí)以過壓現(xiàn)象為主。用萬(wàn)用表R×1k擋檢測(cè)補(bǔ)償電容器有無(wú)擊穿,如果電容器不能正常充放電或阻值為零,則為補(bǔ)償電容器故障。若上述檢查正常,則初步判斷為水冷電纜有故障。用萬(wàn)用表R×1擋檢測(cè)水冷電纜電阻,若有電阻值,則水冷電纜出現(xiàn)問題。水冷電纜的檢測(cè)比較難,最直接、最有效的辦法是用替法,即臨時(shí)用電力電纜代替水冷電纜。若水冷電纜正常,則檢查感應(yīng)線圈匝間是否有金屬物引起匝間短路;若正常,則檢查中頻變壓器是否出現(xiàn)故障,若有故障則更換新的中頻變壓器。
若上述檢查增均正常,則再檢RD9801查逆變晶間管(KK)是否損壞。用萬(wàn)用表R×1擋檢測(cè),如果測(cè)量晶閘管陰極與陽(yáng)極之間的電阻為零,則晶閘管損壞,更換晶閘管。若中頻電源逆變晶閘管損壞一只(兩只),其逆變引前角大于或等于2,直流電流和直流電壓的比值比正常大很多,則應(yīng)重新調(diào)整逆變引前角為1.5。
0C(過流)燈亮。引發(fā)0C(過流)燈亮的故障原因有:感應(yīng)線圈、補(bǔ)償電容器及其連接銅排有短路點(diǎn);逆變晶閘管有兩只(四只)損壞;逆變晶間管特性不好,若0Ⅴ/0C同時(shí)燈亮,檢修時(shí)以過壓現(xiàn)象為主。用萬(wàn)用表R×1k擋檢測(cè)補(bǔ)償電容器有無(wú)擊穿,如果電容器不能正常充放電或阻值為零,則為補(bǔ)償電容器故障。若上述檢查正常,則初步判斷為水冷電纜有故障。用萬(wàn)用表R×1擋檢測(cè)水冷電纜電阻,若有電阻值,則水冷電纜出現(xiàn)問題。水冷電纜的檢測(cè)比較難,最直接、最有效的辦法是用替法,即臨時(shí)用電力電纜代替水冷電纜。若水冷電纜正常,則檢查感應(yīng)線圈匝間是否有金屬物引起匝間短路;若正常,則檢查中頻變壓器是否出現(xiàn)故障,若有故障則更換新的中頻變壓器。
上一篇:控制柜門上的過壓指示燈亮
熱門點(diǎn)擊
- CVD是用來(lái)制備二氧化硅介質(zhì)薄膜的主要工藝方
- 退火過程中晶粒的變化
- 電子產(chǎn)品裝配過程中常用的圖紙有哪些?
- 載流子遷移率提高技術(shù)
- 光刻技術(shù)發(fā)展歷史
- 薄層金屬沉積需要良好的臺(tái)階覆蓋性
- W plugR制程
- 天線距離地平面的高度應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi)變化
- 電流返回的最低阻抗通道并非是最短路徑高
- HDP-CⅤD常見反應(yīng)
推薦技術(shù)資料
- 業(yè)余條件下PCM2702
- PGM2702采用SSOP28封裝,引腳小而密,EP3... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究