【現(xiàn)象描述】HAT1036R-EL-E

    某產(chǎn)品在進(jìn)行傳導(dǎo)騷擾測試時的配置圖如圖2.15所示。

    圖2.15所示配置下的傳導(dǎo)騷擾測試結(jié)果如圖2.16所示。由測試結(jié)果頻譜曲線可知,該產(chǎn)品電源端口的傳導(dǎo)騷擾不能通過CLASS B限值線的要求。

    圖2.15 傳導(dǎo)騷擾測試時的配置圖

    注:圖中虛線框體部分為金屬架,它與主機(jī)及以太網(wǎng)模塊一起構(gòu)成EUT。EuT通過機(jī)架接地。BAsE與EthemetModuk均通過⒉Ⅴ電源供電。

    P1:主機(jī)的0Ⅴ點(diǎn),用來接地,進(jìn)行EMC測試時將PI接至金屬架。

    P2:以太網(wǎng)模塊的保護(hù)接地點(diǎn),在以太網(wǎng)模塊內(nèi)部,該點(diǎn)與0Ⅴ通過電容相連,測試時將該點(diǎn)未接至金屬架。

    P3:分別是金屬架中的二點(diǎn),由于這三點(diǎn)都是在同一金屬板中,彼此之問的阻抗近似為零,所以在電路原理上近似為同一點(diǎn)。

    擴(kuò)展總線:是主機(jī)與以太網(wǎng)模塊的互連'總線,通過總線將主機(jī)的0V與以太網(wǎng)模塊的0V相連。

   測試中發(fā)現(xiàn),將圖2.16所示的接地方式改變成圖2.17所示的方式,即將P2點(diǎn)接至Pl點(diǎn)。再進(jìn)行測試,結(jié)果如圖2.I8所示,測試通過。