觸發(fā)能力檢測(cè)
發(fā)布時(shí)間:2019/2/15 20:05:35 訪問(wèn)次數(shù):415
觸發(fā)能力檢測(cè)
檢測(cè)單向晶閘管的觸發(fā)能力實(shí)際上就是檢測(cè)G極控制A、Κ極之間導(dǎo)通的能力。MC56F8011VFAE單向晶間管觸發(fā)能力檢測(cè)過(guò)程如圖11-5所示,測(cè)量過(guò)程說(shuō)明如下:
將萬(wàn)用表?yè)苤罵×lΩ擋,測(cè)量單向晶間管A、K極之問(wèn)的正向電阻(黑表筆接A極,紅表筆接K極),A、K極之間的阻值正常應(yīng)接近無(wú)窮大,然后用一根導(dǎo)線將A、G極短路,為G極提供觸發(fā)電壓,如果單向晶間管良好,A、K極之間應(yīng)導(dǎo)通,A、K極之間的阻值馬上變小,再將導(dǎo)線移開(kāi),讓G極失去觸發(fā)電壓,此時(shí)單向晶間管還應(yīng)處于導(dǎo)通狀態(tài),A、K極之間阻值仍很小。
在上面的檢測(cè)中,若導(dǎo)線短路A、G極前后,A、K極之間的阻值變化不大,說(shuō)明G極失去觸發(fā)能力,單向晶間管損壞;若移開(kāi)導(dǎo)線后,單向晶間管A、K極之問(wèn)阻值又變大,則為單向晶間管開(kāi)路(注:即使單向晶閘管正常,如果使用萬(wàn)用表高阻擋測(cè)量,由于在高阻擋時(shí)萬(wàn)用表提供給單向晶閘管的維持電流比較小,有可能不足以維持單向晶間管繼續(xù)導(dǎo)通,也
會(huì)出現(xiàn)移開(kāi)導(dǎo)線后A、K極之間阻值變大,為了避免檢測(cè)判斷失誤,應(yīng)采用R×lΩ或R×10Ω擋測(cè)量)。
觸發(fā)能力檢測(cè)
檢測(cè)單向晶閘管的觸發(fā)能力實(shí)際上就是檢測(cè)G極控制A、Κ極之間導(dǎo)通的能力。MC56F8011VFAE單向晶間管觸發(fā)能力檢測(cè)過(guò)程如圖11-5所示,測(cè)量過(guò)程說(shuō)明如下:
將萬(wàn)用表?yè)苤罵×lΩ擋,測(cè)量單向晶間管A、K極之問(wèn)的正向電阻(黑表筆接A極,紅表筆接K極),A、K極之間的阻值正常應(yīng)接近無(wú)窮大,然后用一根導(dǎo)線將A、G極短路,為G極提供觸發(fā)電壓,如果單向晶間管良好,A、K極之間應(yīng)導(dǎo)通,A、K極之間的阻值馬上變小,再將導(dǎo)線移開(kāi),讓G極失去觸發(fā)電壓,此時(shí)單向晶間管還應(yīng)處于導(dǎo)通狀態(tài),A、K極之間阻值仍很小。
在上面的檢測(cè)中,若導(dǎo)線短路A、G極前后,A、K極之間的阻值變化不大,說(shuō)明G極失去觸發(fā)能力,單向晶間管損壞;若移開(kāi)導(dǎo)線后,單向晶間管A、K極之問(wèn)阻值又變大,則為單向晶間管開(kāi)路(注:即使單向晶閘管正常,如果使用萬(wàn)用表高阻擋測(cè)量,由于在高阻擋時(shí)萬(wàn)用表提供給單向晶閘管的維持電流比較小,有可能不足以維持單向晶間管繼續(xù)導(dǎo)通,也
會(huì)出現(xiàn)移開(kāi)導(dǎo)線后A、K極之間阻值變大,為了避免檢測(cè)判斷失誤,應(yīng)采用R×lΩ或R×10Ω擋測(cè)量)。
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